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两线制多探头可连续射频导纳控制器制造技术

技术编号:5260792 阅读:204 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种两线制多探头可连续射频导纳控制器,包括设置有绝缘套的探头,探头至少包括测量探头和参比探头,测量探头连接有用于测量液位或物位及介质变化的测量变送器,参比探头连接有用于测量介质变化的参比变送器,测量变送器和参比变送器连接有除法器,除法器与控制器连接;绝缘套为陶瓷密封绝缘套。本实用新型专利技术无需重新标定即可测试不同介质,可防止电磁干扰,解决了因静电聚集而损坏电器仪表的问题,且可在800-1000度的高温下使用。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种液位及物位自动检测和控制液位测量装置,尤其涉及一 种两线制多探头可连续射频导纳控制器,可适用于石油、化工、发电、水泥、冶 金等行业的液位和料位的自动检测和控制。
技术介绍
现有技术中使用的物位控制器大致分为机械式、音叉式、电容式和核幅射式。 机械式和音叉式物位控制器存在易磨损,使用寿命短、信号不稳等不足之处。电 容式物位控制器完全可以胜任非导电介质的测量,对于导电性介质,物位升高淹 没探头后又落下去时,探头可能会留有附着物即挂料,这会导致被测电容加大, 如果是导电液体更为明显,会产生很大的误差,另外,探头到电路单元之间的连 接电缆相当于一个较大的电容,而且随温度变化,变化的电缆电容与物位电容叠 加在一起也会引起很大的误差,尤其在物料介电常数较低的场合,信号较小,误 差将是很严重的。核幅射式物位控制器存在对人体有害的问题。针对上述问题,出现了射频导纳技术。射频导纳技术是一种新型物位测量方 法,它能减小或消除由被测导电介质电极挂料的测量误差,从而提高电容式物位 计的测量准确度。现有技术中,例如在中国专利ZL95201496. 3中公开的一种电容 式料位仪的传感器电极采用分段折叠式金属管或一条外包裹有一层绝缘保护层的 钢丝绳构成,当电极通电且在料仓中加入某种物质时,电极与料仓之间构成了两 个极,它们之间形成了电场,如果两电极片的有效面积和两极片的距离一定时, 则电容量的变化反映了注入物高度。在实际应用中当容器排料物料下降时,会在 探头上附着一层挂料,对于高导电的物料介质测量的情况就会发生变化,在应用 中,该传感器通常会由于电极上的挂料而产生误动作信号,造成测量结果出现误 差,同时该传感器的结构显然只能适用于常温、常压的工作环境中。针对中国专利ZL95201496. 3中存在的这一问题,中国专利03238182.4中公开 了一种射频导纳物位控制器,在法兰中心孔的一侧通过接管件连接有内端设有接 线柱,外壁从连接管件端依次套有绝缘套、保护级、绝缘套、固定套的探头,在 法兰中心孔的另一侧通过接管件连接有内设有电路板的壳件,在电路板上布有依 次输出、输入连接的电源电路、高频电桥电路、跟随电路、检测放大电路、比较 电路、输出电路,在检测放大电路和跟随电路的输出、输入间通过导线与保护级 连接,在跟随电路和高频电桥电路的输出、输入间通过导线与探头连接。此专利技术解决了挂料的问题,但还存在如下不足 一、只能测量一种介质,当介质变 换后,由于介质的导电特性不同,导致测量不准确,需要重新进行标定。二、进 料时摩擦会产生静电,当静电聚集到一定程度时,会损坏电器仪表。三、绝缘套 只能耐270度左右高温,当温度高于270度时,绝缘套会融化。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有射频导纳物位控制器存在的上述问题,提供 一种两线制多探头可连续射频导纳控制器。本技术无需重新标定即可测试不 同介质,可防止电磁干扰,解决了因静电聚集而损坏电器仪表的问题,且可在800 一1000度的高温下使用。为实现上述目的,本技术釆用的技术方案如下一种两线制多探头可连续射频导纳控制器,包括设置有绝缘套的探头,其特 征在于所述探头至少包括测量探头和参比探头,测量探头连接有用于测量液位 或物位及介质变化的测量变送器,参比探头连接有用于测量介质变化的参比变送 器,测量变送器和参比变送器连接有除法器,除法器与控制器连接。所述测量探头和参比探头通过同轴电缆分别与测量变送器和参比变送器连接。所述绝缘套为陶瓷密封绝缘套。所述陶瓷密封绝缘套包括陶瓷密封绝缘长套和陶瓷密封绝缘短套。 所述探头包括探极、屏蔽极和接地极,探极和屏蔽极之间套接有陶瓷密封绝缘短套,屏蔽极和接地极之间套接有陶瓷密封绝缘长套。所述探极包括探棒、套装有热塑管的不锈钢丝和与探棒焊接的下端头和测量探极。所述屏蔽极包括芯管和与芯管焊接的衬套和保护极。所述接地极包括长套和与长套焊接的接头和螺纹接管。采用本技术的优点在于一、 本技术采用两个独立的变送器联到一个算术除法器上,测量变送器 是一个普通物位变送器,参比变送器是一个固定探头长度的变送器,测量变送器 可以检测出物料的电特性变化和物位的变化,参比变送器因为探头被物料淹没的 长度是固定不变的,只能检测出电特性的变化,因而,当测量不同介质时,无需 重新标定即可测试。二、 本技术采用两个独立的变送器联到一个算术除法器上,测量变送器 是一个普通物位变送器,参比变送器是一个固定探头长度的变送器,测量变送器 可以检测出物料的电特性变化(介电常数/电导率)和物位的变化,参比变送器因 为探头被物料淹没的长度是固定不变的,只能检测出电特性的变化。除法器电路 将组分变化部分除掉,求得的信号正比于实际液位,与电特性无关,从而排除了 挂料的影响。三、 本技术可防止电磁干扰,解决了因物料产生的静电聚集而损坏电器 仪表的问题。四、 本技术绝缘套为陶瓷密封绝缘套,可在800—1000度的高温下使用, 适用范围更广。五、 本技术在使用中防挂料性能更好、工作更可靠、测量更准确、适用 性更广。附图说明图l为本技术结构示意图图中标记为1、测量探头,2、参比探头,3、除法器。具体实施方式实施例l:一种两线制多探头可连续射频导纳控制器,包括设置有绝缘套的探头,探头 至少包括测量探头1和参比探头2,测量探头l连接有用于测量液位或物位及介质 变化的测量变送器即图中所示的变送器l,参比探头2连接有用于测量介质变化的 参比变送器即图中所示的变送器2,测量变送器和参比变送器连接有除法器3,除 法器3与控制器连接,输出真实液位;将绝缘套设为陶瓷密封绝缘套。本技术中,测量探头1和参比探头2通过同轴电缆分别与测量变送器和参 比变送器连接。陶瓷密封绝缘套包括陶瓷密封绝缘长套和陶瓷密封绝缘短套。探 头包括探极、屏蔽极和接地极,探极和屏蔽极之间套接有陶瓷密封绝缘短套,屏 蔽极和接地极之间套接有陶瓷密封绝缘长套。探极包括探棒、套装有热塑管的不 锈钢丝和与探棒焊接的下端头和测量探极。屏蔽极包括芯管和与芯管焊接的衬套 和保护极。接地极包括长套和与长套焊接的接头和螺纹接管。本技术采用两个独立的变送器联到一个算术除法器上,测量变送器是一 个普通物位变送器,参比变送器是一个固定探头长度的变送器,测量变送器可以 检测出物料的电特性变化(介电常数/电导率)和物位的变化,参比变送器因为探 头被物料淹没的长度是固定不变的,只能检测出电特性的变化。除法器电路将组 分变化部分除掉,求得的信号正比于实际液位,与电特性无关。例如测量变送 器的信号为k,淹没长度为H,参比变送器的信号为12,淹没长度为h,则正比关系 为:H/I1=h/I2,因此,H-lxh/12。这样,测量就与物料的性质无产在,是一个相对 测量。因而,当测量不同介质时,无需重新标定即可测试。本技术可防止电磁干扰,解决了因物料产生的静电聚集而损坏电器仪表 的问题。绝缘套为陶瓷密封绝缘套,可在800—1000度的高温下使用,适用范围 更广。5实施例2:本技术在烧结混合料槽料位测量中时,烧结混合料槽料位的连续测量是 烧结工艺生产的重点和难点问题,这主要是因为烧结的特殊工艺造成的。料槽呈 长方体,上方开口进料本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种两线制多探头可连续射频导纳控制器,包括设置有绝缘套的探头,其特征在于:所述探头至少包括测量探头(1)和参比探头(2),测量探头(1)连接有用于测量液位或物位及介质变化的测量变送器,参比探头(2)连接有用于测量介质变化的参比变送器,测量变送器和参比变送器连接有除法器(3),除法器(3)与控制器连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄战鹏
申请(专利权)人:黄战鹏
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]

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