【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种薄片处理设备以及通过连接多个薄片处理设备所构成的薄片处 理系统。特别地，本专利技术涉及对正输入至薄片处理设备和正从薄片处理设备输出的纸张薄 片的位置误差进行校正。
技术介绍
传统上，已知有校正薄片的横向偏移或歪斜以提高薄片处理设备中的薄片处理精 度的技术。例如，在日本特开2007-055748号公报公开的薄片处理设备中，当要进行打孔时， 在执行打孔之前检测表示在与薄片输送方向垂直的薄片宽度方向上的薄片偏移量的“横向 偏移量”。然后，进行校正并补偿该横向偏移量的“横向偏移校正”，由此提高了确定打孔位 置的精度。此外，在美国专利7520497公开的薄片处理设备中，在执行打孔之前检测表示薄 片前端的角度偏移量的“歪斜量”，并且进行校正并补偿该歪斜量的“歪斜校正”，由此提高 了确定打孔位置的精度。通过以上说明显而易见，由薄片处理设备进行的打孔需要用于校正薄片的横向偏 移或歪斜的校正时间以及用于在薄片中打孔的时间。所需的校正时间依赖于薄片的横向偏 移量或歪斜量，并且横向偏移量或歪斜量越大，校正时间越长。由于该原因，通常将处理步 骤配置成即使当位置校正时间...
【技术保护点】
一种薄片处理系统，其包括第一薄片处理设备以及沿着薄片输送方向配置在所述第一薄片处理设备的下游侧的第二薄片处理设备，其中，所述第一薄片处理设备包括：第一检测单元，用于检测输送至所述第一薄片处理设备的薄片的第一位置误差；以及校正单元，用于校正薄片的位置，以及所述第二薄片处理设备包括：第二检测单元，用于检测输送至所述第二薄片处理设备的薄片的第二位置误差；以及发送单元，用于将由所述第二检测单元检测到的所述第二位置误差发送至所述第一薄片处理设备，以及所述第一薄片处理设备还包括：接收单元，用于接收从所述第二薄片处理设备的所述发送单元发送来的所述第二位置误差，以及所述校正单元基于由所述第...
【技术特征摘要】
JP 2009-10-26 2009-2455331.一种薄片处理系统，其包括第一薄片处理设备以及沿着薄片输送方向配置在所述第 一薄片处理设备的下游侧的第二薄片处理设备，其中，所述第一薄片处理设备包括第一检测单元，用于检测输送至所述第一薄片处理设备的薄片的第一位置误差；以及校正单元，用于校正薄片的位置，以及所述第二薄片处理设备包括第二检测单元，用于检测输送至所述第二薄片处理设备的薄片的第二位置误差；以及发送单元，用于将由所述第二检测单元检测到的所述第二位置误差发送至所述第一薄 片处理设备，以及所述第一薄片处理设备还包括接收单元，用于接收从所述第二薄片处理设备的所述发送单元发送来的所述第二位置 误差，以及所述校正单元基于由所述第一检测单元检测到的所述第一位置误差和由所述接收单 元接收到的所述第二位置误差这两者，来校正后续薄片的位置。2.根据权利要求1所述的薄片处理系统，其特征在于，所述第一位置误差包括输送至 所述第一薄片处理设备的薄片的横向偏移量，并且所述第二位置误差包括输送至所述第二 薄片处理设备的薄片的横向偏移量。3.根据权利要求1所述的薄片处理系统，其特征在于，所述第一位置误差包括输送至 所述第一薄片处理设备的薄片的歪斜量，并且所述第二位置误差包括输送至所述第二薄片 处理设备的薄片的歪斜量。4.根据权利要求2所述的薄片处理系统，其特征在于，所述第一位置误差还包括输送 至所述第一薄片处理设备的薄片的歪斜量，并且所述第二位置误差还包括输送至所述第二 薄片处理设备的薄片的歪斜量。5.根据权利要求2所述的薄片处理系统，其特征在于，所述校正单元通过结合用于补 偿由所述接收单元接收到的横向偏移量的校正量和用于补偿由所述第一检测单元检测到 的横向偏移量的校正量，来确定用于校正薄片的横向位置的横向偏移校正量。6.根据权利要求3所述的薄片处理系统，其特征在于，所述校正单元通过结合用于补 偿由所述接收单元接收到的歪斜量的校正量和用于补偿由所述第一检测单元检测到的歪 斜量的校正量，来确定歪斜校正量。7.根据权利要求1所述的薄...
【专利技术属性】
技术研发人员：石川直树，加藤仁志，深津康男，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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