【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种X荧光光谱镀层分析仪，具体涉及一种用于x荧光光谱镀层分析仪的准直器。
技术介绍
X荧光光谱分析仪器是使用X射线照射试样，对产生的X射线荧光进行解析，用以 分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷，精度高，成本低等特点， 已经在很多行业得到广泛的应用。 现有技术中，其分析样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼 钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定 性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。 X荧光光谱镀层分析仪器是X荧光光谱分析仪中的一种，主要用于对尺寸范围较 大的部件上进行镀层厚度分析和含量的逐点测试，其主要原理是光源系统发射出X荧光，X 荧光作用在样品上后，样品中的各个X会被激发出特征X荧光，这些X荧光被探测器系统所 接收，分析转化为电信号，电信号经过系统模块的处理，进而得到用户所需要的分析信息。 目前对于准直器上的小孔加工一直是X荧光光谱镀层分析仪的技术难点，已知的 对于直径小于0. 3mm的小孔利用一般的传统加工工艺是很难实现的，即使采用一些特种加 工的方法也存在加工成本高和良品率低下的问题。 因此对现有的X荧光光谱镀层分析仪的准直器及其加工方法进行改进已成为本
中亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述技术的不足，提供一种用于X荧光光谱镀层分析 仪的准直器，其解决了原有X荧光光谱镀层分析仪的准直器加工存在的技术缺陷和设计弊丄山顺。 本技术为满足上述目的，采用以下技术方案一种用于X荧光光谱镀层分析 ...
【技术保护点】
一种用于Ｘ荧光光谱镀层分析仪的准直器，其特征在于：所述准直器由三个片体组成，其中，第一片体的一长边与第二片体的一长边对齐拼接，第三片体叠放在所述第一片体与所述第二片体上，所述第一片体或所述第二片体的中的一长边的中部开设有一微槽，所述第三片体的中部开设有一长槽，所述微槽与所述长槽在长度方向上垂直叠放。
【技术特征摘要】
一种用于X荧光光谱镀层分析仪的准直器，其特征在于所述准直器由三个片体组成，其中，第一片体的一长边与第二片体的一长边对齐拼接，第三片体叠放在所述第一片体与所述第二片体上，所述第一片体或所述第二片体的中的一长边的中部开设有一微槽，所述第三片体的中部开设有一长槽，所述微槽与所述长槽在长度方向上垂直叠放。2. 如权利要求1所述的X荧光光谱镀层分析仪的准直器，其特征在于所述微槽的长 大于等于所述长槽的宽。3...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘召贵，黄清华，
申请(专利权)人：江苏天瑞仪器股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]
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