【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于一种检测用户对元器件摆放的不合理约束的方法与装置，尤其是关 于一种自动检测集成电路(integrated circuit, IC)设计中用户自定义的不合理的元器件 摆放约束的方法与装置。
技术介绍
在IC设计中，通常依用户的需求设计工具会按其默认的设置进行操作。以元器件 的摆放为例，较普遍的设计方法如图1所示。首先在一前端设计的步骤700中生成一门级网 表，然后经后端设计的摆放优化步骤701、时钟树建立与优化步骤702和连线优化步骤703 等后端设计流程得到最终的IC设计结果。该设计方法简便快捷，然在很多情况下，用户认 为设计工具的默认设计不能涵盖一些特别的需要，希望能根据自己的需求判断加入一些特 殊的约束以寻求获得更接近预期的设计结果。为满足上述需求，图2所示是一种可供用户自定义的IC设计方法。在前端设计的 步骤710中以默认设置生成一门级网表；在步骤711中接收用户自定义的元器件摆放约束， 在步骤712中将其与默认设置生成的门级网表一并输入自定义的门级网表生成装置，如编 译器中；由该编译器生成带有用户自定义的元器件摆放约束的门级网表。接着进入...
【技术保护点】
一种检测不合理的元器件摆放约束的方法，其特征在于包含如下步骤：产生一基准集成电路设计；产生一自定义集成电路设计，其较该基准集成电路设计加入了至少一用户自定义的元器件摆放约束；将该基准集成电路设计与该自定义集成电路设计相比较，以一判断标准找出该自定义集成电路设计中所有较该基准集成电路设计中对应路径变差的路径；及找出该变差路径上所有由该至少一用户自定义的元器件摆放约束设置的元器件，从而找到该至少一用户自定义的元器件摆放约束中不合理的元器件摆放约束。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：幸波，石国语，
申请(专利权)人：新思科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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