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检测不合理元器件摆放约束的方法与装置制造方法及图纸
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文档序号:5086952
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本发明提供一种自动检测用户自定义的不合理RP约束的方法与装置,其中该检测方法包含:分别产生一基准集成电路设计与一自定义集成电路设计,该自定义集成电路设计较该基准集成电路设计加入了至少一用户自定义的元器件摆放约束;将该基准集成电路设计与该自定...
该专利属于新思科技(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过新思科技(上海)有限公司授权不得商用。
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