本发明专利技术涉及一种文字标记金属短路电路检测方法及装置，该方法包含如下步骤：输入一电路设计的档案，其中该电路设计档案包含该电路设计的布局图案数据，该电路设计的档案格式为通用数据流格式；输入一设计规则组；根据该设计规则组选取一特定检查规则，其中该特定检查规则是用以检测该电路设计中的文字标记金属短路电路；根据该特定检查规则对于该电路设计执行一验证程序以得到一第一检测结果，其中该第一检测结果包含该电路设计中所有短路路径；以及根据该第一检测结果使用模糊算法执行一标记伪文字程序以得到一第二检测结果。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于电路设计中的检测方法及装置，特别是关于电路设计中的文字标记 金属短路检测方法及其装置。
技术介绍
集成电路(IC)的制造技术不断进步，使得IC芯片的最小尺寸也一直下降。然在 缩小芯片尺寸趋势的物理设计中，更需要考虑制造能力(Manufacturability)所造成合格 率和可靠性的影响，而其中功率损耗问题尤需注意。典型的处理规则具体指定导线单位宽 度所承载电流的安培量。另一方面，总功率限制亦为重要的议题，其延伸的散热问题对于单 一封装设计而言，需具备在器件损坏之前的散热能力。标准集成电路封装具备数瓦特的散 热能力。然而，新颖的封装设计利用热鳍(Heat Fin)或其它散热方法使其具备更佳的散热 能力。集成电路的物理设计验证(Physical Design Verification)为电路设计流程中 重要的一环。物理设计验证的步骤将确认一集成电路设计是否符合所有流程规则。几何设 计规则藉由检查一电路的最终布局的相对位置或语法(Syntax)确保该电路得以正确地制 造。然而，功能正确性检验将由可操纵电路作动及其行为的仿真器(Simulator)和验证器 (Verifier)协助完成。电气规则检查(Electrical Rule Check)或设计规则检查(Design Rule Check)，其用以处理布局语法及复杂行为分析。电气规则为一电路的相关属性规定， 其可藉由几何及连结关系决定。在集成电路设计的验证工作中，文字标记金属短路电路位置检测是一重要议题。 然而，现有工具的检测方式为列出一短路路径上所有多边形(Polygon)，随后需使用者逐一 检查所列出的多边形。当完成该短路路径检查后，再次执行验证工具以取得另一短路路径， 随后使用者再次逐一检查所列出的多边形。此程序重复操作直到完成所有短路电路位置检 测工作，以致花费了太多的时间。因此，电子设计自动化业界需要一种有效率的文字标记金 属短路电路位置检测方法与装置，藉此以缩短电路的设计时程。
技术实现思路
本专利技术提供一种文字标记金属短路电路位置检测方法与装置，其根据一特定检查 规则对于一电路设计执行一验证程序以得到一第一短路路径检测结果，其中该第一短路路 径检测结果包含该电路设计中所有短路路径。随后，根据该第一检测结果使用模糊算法执 行一标记伪文字程序以得到一第二检测结果。使用者可分别根据该第一检测结果及该第二 检测结果依序确认金属短路位置，藉此加速该电路设计中的文字标记金属短路电路位置的 检测。根据本专利技术一实施例揭示一种文字标记金属短路电路检测方法，包含步骤如下 输入一电路设计的档案，其中该电路设计档案包含该电路设计的布局图案数据，该电路设 计的档案格式为通用数据流(Generic Data Stream)格式；输入一设计规则组；根据该设计规则组选取一特定检查规则，其中该特定检查规则是用以检测该电路设计中的文字标记 金属短路电路；根据该特定检查规则对于该电路设计执行一验证程序以得到一第一检测 结果，其中该第一检测结果包含该电路设计中所有短路路径；以及根据该第一检测结果使 用模糊算法执行一标记伪文字程序以得到一第二检测结果。该第一检测结果为单元短路 (Cell Short)检测结果、阶层短路(Hierarchical Short)检测结果或同时包含单元短路检 测结果及阶层短路检测结果，但本专利技术不以此为限。该第一检测结果亦包含文字标记金属 短路电路的位置信息。上述的验证程序为一设计规则检查(Design Rule Check)程序。上 述的标记伪文字程序为一标记VDD及VSS文字程序，但本专利技术不以此为限。根据本专利技术一实施例揭示一种文字标记金属短路电路检测装置，其包含一输入模 块、一选取单元、一执行单元、一产生单元、一修正单元、一确认单元、一更新单元及一显示 单元。该输入模块被构建以输入一电路设计的档案及一设计规则组，其中该电路设计档案 包含布局图案的数据，该电路设计的档案格式为通用数据流格式，但本专利技术不以此为限。该 选取单元被构建以根据该设计规则组选取一特定检查规则。该特定检查规则是用以检测该 电路设计中的至少一文字标记金属短路电路，但本专利技术不以此为限。该执行单元被构建以 根据该特定检查规则对于该电路设计执行一验证程序及根据该验证程序的结果使用模糊 算法执行一标记伪文字程序。该验证程序为一设计规则检查程序。该标记伪文字程序为一 标记VDD及VSS文字程序，但本专利技术不以此为限。该产生单元被构建以根据该验证程序的 结果或该标记伪文字程序的结果产生一检测结果或一待确认状态。该检测结果为单元短路 检测结果、阶层短路检测结果或同时包含单元短路检测结果及阶层短路检测结果，但本发 明不以此为限。该检测结果包含文字标记金属短路电路的位置信息。该修正单元被构建以 根据该检测结果修改该电路设计。该确认单元被构建以取得一使用者对于该待确认状态提 供的确认信息。该更新单元被构建以根据该修正单元的一修正结果或该确认信息更新该检 测结果或该待确认状态。该显示单元被构建以显示该检测结果或该待确认状态。上文已经概略地叙述本专利技术的技术特征，俾使下文的本专利技术详细描述得以获得较 佳了解。构成本专利技术的申请权利要求书标的的其它技术特征将描述于下文。本专利技术所属技 术领域中具有普通技术人员应可了解，下文揭示的概念与特定实施例可作为基础而相当轻 易地予以修改或设计其它结构或制程而实现与本专利技术相同的目的。本专利技术所属
中 具有普通技术人员亦应可了解，这类等效的构建并无法脱离后附的申请权利要求书所提出 的本专利技术的精神和范围。附图说明图1是本专利技术的一实施例的文字标记金属短路电路检测方法的流程图；图2是步骤102的详细步骤；图3是步骤103的详细步骤；及图4是本专利技术的另一实施例的文字标记金属短路电路检测装置的方块图。 具体实施例方式本专利技术在此所探讨的方向为一种文字标记金属短路电路检测方法及其装置。为了 能彻底地了解本专利技术，将在下列的描述中提出详尽的步骤及组成。显然地，本专利技术的施行并未限定于电路设计的技术人员所熟悉的特殊细节。另一方面，众所周知的组成或步骤并未 描述于细节中，以避免造成本专利技术不必要的限制。本专利技术的较佳实施例会详细描述如下，然 而除了这些详细描述之外，本专利技术还可以广泛地施行在其它的实施例中，且本专利技术的范围 不受限定，其以之后的权利要求书为准。图1显示本专利技术的一实施例的文字标记金属短路电路检测方法的流程图。为了使 本领域普通技术人员可以通过本实施例的教导实施本专利技术，以下结合图1至图3说明文字 标记金属短路电路检测方法的流程。在步骤101中，开始本实施例的流程。在步骤102中，验证一使用者输入的一待检 测电路。在步骤103中，根据步骤102的验证结果执行一文字标记金属短路电路(Texted Metal Short Circuit)检测程序。在步骤104中，结束本实施例的流程。根据本专利技术的一实施例，图2显示步骤102的详细步骤。在步骤201中，输入一电 路设计的档案，其中该电路设计档案包含该电路设计的布局图案数据，该电路设计的档案 格式为通用数据流(Generic Data Mream)格式，但本专利技术不以此为限。该电路设计，例如， 为一集成电路设计。在步骤202中，输入一设计规本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种文字标记金属短路电路的检测方法，其特征在于包含如下步骤：输入一电路设计档案，其中该电路设计档案包含该电路设计的布局图案的数据；输入一设计规则组；根据该设计规则组选取一特定检查规则；根据该特定检查规则对于该电路设计执行一验证程序以得到一第一检测结果，其中该第一检测结果包含该电路设计中所有短路路径；及根据该第一检测结果使用模糊算法执行一标记伪文字程序，用以得到一第二检测结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘佩佩，王佳维，
申请(专利权)人：新思科技有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
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