引线框架的测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试设备，尤其涉及一种引线框架的测试夹具。公开了一种引线框架的测试夹具，包括外框和底板，所述外框与所述底板连接并位于所述底板的上方，所述外框是由两条长边和两条短边连接组成的长方形框体，所述长方形框体由隔条分隔出若干矩形的外框槽孔，所述长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口。这种引线框架的测试夹具可以配合三维视频显微镜，实现全面、准确测量引线框架，从而有效提高引线框架的检测效率。另外，在所述测试夹具的底板上对应引线框架每个单元的位置开槽孔，不但可以减轻夹具的自重，还可以使用背光，充分利用光源。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试设备，尤其涉及一种引线框架的测试夹具。
技术介绍
引线框架(Lead frame)是封装厂重要的原材料之一，它的标准与否会直接影响到集成电路(IC)的良率和稳定性。因此如何高效准确地判断引线框架是否标准显得尤其重要。目前通常采用手动显微镜(如High Power Microscope, STM6)检查引线框架。检查的时候，需要采用引线框架的测试夹具。现有的引线框架的测试夹具结构，包括底板和外框。所述外框与底板连接，并且，所述外框位于所述底板的上方。所述外框上对应引线框架上的各个芯片单元位置开有相应的矩形槽孔。使用的时候，首先，将外框和底板分离。接着，将引线框架放置于所述底板上。然后，将外框覆盖在装有引线框架的底板上，使得矩形槽孔与引线框架的单元相对应。最后，通过螺栓将外框与所述底板连接。但是这种引线框架的测试夹具只适用于手动显微镜。在检查引线框架时，需要手动选取测量点，手动调整焦距(focus)量测数据，并且还要手动保存数据。由于所有动作都是手动完成，所以存在下列不足l.手动选取量测点，取点数量受到限制且不易统一；2.手动调整焦距量测数据，因人不同造成数据精准度不本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种引线框架的测试夹具，包括外框和底板，所述外框与所述底板连接并位于所述底板的上方，所述外框是由两条长边和两条短边连接组成的长方形框体，所述长方形框体由隔条分隔出若干矩形的外框槽孔，其特征在于，所述长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：严大生，刘铁，童建桥，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]