估计光学系统的波前的至少一个变形或者通过所述光学系统观察到的物体的方法以及相关设备技术方案

本发明专利技术涉及一种用于估计观察系统的波前的至少一个变形或者通过该系统观察到的物体的方法，其特征在于：在观察系统的焦平面附近，在至少一个差异平面中获取至少一个差异图像，其中差异图像包括已知的差异变形；在每个差异平面中，根据至少以下各项来确定图像模型：将系统的物理光瞳分解为多个子光瞳；将每个子光瞳上的所求变形分解为由待定系数加权的至少一个已知变形的形式；通过系统光瞳的自动相互关联确定系统的传递函数；作为所求的变形系数的函数将自动相互关联的每一项线性化，其中在已知的差异变形附近执行该线性化；观察到的物体和噪音；通过确定的图像模型和获得的图像，估计所求的变形或观察到的物体。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及估计光学系统的波前的至少一个变形或者通过所述光学系统观察到的物体的方法和设备。 本专利技术特别应用于高分辨率成像和波束成形的领域。 光学系统和/或光传播介质可以导致变形。此外，当变形使光学系统质量下降时，本专利技术可以估计(恢复)被观察的物体。
技术介绍
由于在来自于被观察物体的波的传播路径上存在像差(aberration)或其他扰动，通过光学仪器获得的图像的质量通常变差。 实际上，存在于仪器的光瞳中的这些相位变形削弱了传输功能。 已经开发出几种被称为表面波分析仪(Wave Surface AnalyzersWSA)的设备，用于通过将光瞳相位变换为可测量的强度变化来测量光瞳的相位。 这些设备用在以闭环方式运行的系统中，其中闭环具有可以控制所接收的波的相位的部件(变形镜、相位偏移器等)，这些设备可以去除观察到的扰动。此外，可以利用WSA的信息恢复(估计)被观察的物体。 现在，已经存在各种表面波分析仪，特别可以参考由F.Roddier指导的G.Rousset发表的“Wave-front sensors，Adaptive Optics inAstronomy”，c本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于估计观察系统（２０）的波前的至少一个变形（１０）或者通过所述观察系统（２０）观察到的物体的方法，其特征在于，在观察系统的焦平面附近，在至少一个差异平面中获取至少一个差异图像（２６－２８），其中差异图像包括已知的差异变形，并且在每个差异平面中，根据至少以下各项来确定图像模型：将系统的物理光瞳分解为多个子光瞳，将每个子光瞳上的所求变形分解为由待定系数加权的至少一个已知变形的形式；通过系统（２０）的光瞳的自动相互关联确定系统（２０）的传递函数；根据所求的变形系数将自动相互关联的每一项（Ｐ０－Ｐ６）线性化，在已知的差异变形附近执行该线性化；观察到的物体和噪音；通过确定的图像模型和获得的图像，估...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：F卡桑，I莫克尔，L米尼耶，
申请(专利权)人：国家研究和航空航天研究局，
类型：发明
国别省市：FR[法国]