光源测量方法技术

技术编号:4359000 阅读:192 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种光源测量方法,其用于测量至少一个光源,所述光源测量方法包括以下步骤:提供一图板,所述图板上预绘有至少一个测量图案,所述测量图案包括中心点及多个线条,所述多个线条以中心点向四周排布;用一个光源对应照射所述图板上的一个测量图案;利用可以感测所述光源发射的光的拍摄装置拍摄被所述光源照射的测量图案;在拍摄的图像中,根据光照射在测量图案中所占据的区域及对应的线条,获得光源照射的区域的范围。本发明专利技术提供的光源测量方法无需昂贵的设备及复杂的操作,只需参考所述测量图案,就可以简单、快速的获得光源照射的区域的大小及发散角。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学测量,特别是一种。
技术介绍
发光二极管(LED)是一种将电能转化为光能的固体发光器件,因其具有寿命长、 体积小、耐震性好、节电、高效、响应时间快、驱动电压低及环保等优点,而在指示、显示、装 饰、照明等诸多领域有着广泛的应用。然而现在LED在装入显示装置或照明装置内时,往往不需要获得LED所有的参数, 只需要测量其发散角的大小、在一定光程中照射出的光斑大小即可。然而如此简单的参数 测量却往往一样需要采用光谱仪、积分球等昂贵的设备以及复杂的测量过程。这种测量较 难适应工业化测量过程中低成本、快速、方便测量的需求。
技术实现思路
有鉴于此,有必要提供一种低成本、快速,且测量方便的。一种,其用于测量至少一个光源,所述包括以下步骤 提供一图板,所述图板上预绘有至少一个测量图案,所述测量图案包括中心点及多个线条, 所述多个线条以中心点向四周排布;用一个光源对应照射所述图板上的一个测量图案;利 用可以感测所述光源发射的光的拍摄装置拍摄被所述光源照射的测量图案;在拍摄的图像 中,根据光照射在测量图案中所占据的区域及对应的线条,获得光源照射的区域的范围。本专利技术提供的无需昂贵的设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光源测量方法,其特征在于,其用于测量至少一个光源,所述光源测量方法包括以下步骤:  提供一图板,所述图板上预绘有至少一个测量图案,所述测量图案包括中心点及多个线条,所述多个线条以中心点向四周排布;  用一个光源对应照射所述图板上的一个测量图案;  利用可以感测所述光源发射的光的拍摄装置拍摄被所述光源照射的测量图案;  在拍摄的图像中,根据光照射在测量图案中所占据的区域及对应的线条,获得光源照射的区域的范围。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:柯骏程
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1