一种绿碳化硅微粉粒度检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及粒度检测技术领域，公开了一种绿碳化硅微粉粒度检测方法及装置，所述方法包括采集粒度分布数据，得到二维检测数据集；预处理后得到粒度分布数据集；降维分析粒度分布数据集，形成粒度分布特征向量；获取硅、碳含量的配比参数时间序列；计算粒度分布特征向量与配比参数的相关性系数，建立动态粒度预测模型；将实时硅、碳含量数据输入动态粒度预测模型，得到粒度分布特征；当主要粒径区间偏离预设目标粒径范围时，调整硅、碳含量，得到优化后的配比参数时间序列；基于优化后的配比参数时间序列更新模型，得到调整后的粒度预测模型，重复预测后得到优化的粒度分布特征。本方法能够实现粒度分布的精准预测与动态调整，提升产品粒度稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微粉粒度检测，尤其涉及一种绿碳化硅微粉粒度检测方法及装置。

技术介绍

1、绿碳化硅微粉作为高端磨料和功能材料的关键组成部分，在精密加工、电子器件制造及新能源领域具有不可替代的作用，其粒度分布直接影响产品质量和应用性能。粒度分布的均匀性和主要粒径区间的精准控制，是保障微粉在抛光精度、器件性能等方面达到设计要求的核心前提。

2、现有技术中，绿碳化硅微粉的粒度检测多依赖激光粒度分析仪、沉降仪等单一设备，通过单次或批次检测获取粒径分布数据。在生产调控方面，多通过经验性调整原料配比、研磨时间等工艺参数，结合离线检测结果优化粒度分布。这种模式下，检测数据与工艺参数的关联分析仅停留在表面，既未对多批次数据进行系统性聚合以挖掘规律，也未通过数学建模量化原料配比与粒度输出的内在联系，难以实现粒度特性的主动预测与动态优化。

3、综上，现有技术缺乏对原料配比与最终产品粒度输出之间的动态关联，存在粒度分布特征稳定性不足的问题。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种绿碳化硅微粉粒度检测方法及装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，所述针对所述二维检测数据集进行预处理，得到最终的粒度分布数据集，包括：

3.根据权利要求1所述的绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，所述对所述粒度分布数据集进行降维分析，确定主要粒径区间和对应的颗粒体积占比，线性变换后形成粒度分布特征向量，包括：

4.根据权利要求1所述的绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，所述计算所述粒度分布特征向量与所述配比参数时间序列的相关性系数，当所述相关性系数大于预设相关性阈值时，建立非线性映射关系，得到动态...

【技术特征摘要】

1.一种绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，所述针对所述二维检测数据集进行预处理，得到最终的粒度分布数据集，包括：

3.根据权利要求1所述的绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，所述对所述粒度分布数据集进行降维分析，确定主要粒径区间和对应的颗粒体积占比，线性变换后形成粒度分布特征向量，包括：

4.根据权利要求1所述的绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，所述计算所述粒度分布特征向量与所述配比参数时间序列的相关性系数，当所述相关性系数大于预设相关性阈值时，建立非线性映射关系，得到动态粒度预测模型，包括：

5.根据权利要求1所述的绿碳化硅微粉粒度检测方法，其特征在于，所述获取实时硅含量和碳含量比例数据，输入到所述动态粒度预测模型，得到预测的粒度分布特征，包括：

6.根据权利要求1所述的绿碳化硅...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕毅，杨顺亮，
申请(专利权)人：潍坊六合新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：