【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及颗粒测量领域，具体为一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统。
技术介绍
1、在超细金属粉末的质量控制中，粒径分布是一项核心指标，其直接影响粉末在激光选区熔化等增材制造工艺中的流动性、铺展均匀性及最终成品的力学性能。当前，激光衍射法是行业内主流的粒径测量技术，其依据米氏散射理论或夫琅禾费近似理论对颗粒散射的光能分布图进行反演计算，从而推导颗粒的粒径分布。
2、现有技术存在一个深层缺陷：测量过程本身会对被测颗粒的物理状态产生扰动，导致测量结果系统性偏离颗粒的真实状态，该测量诱导的效应指出，测量过程中引入的静电场、激光光压以及声波扰动等，会改变颗粒原有的聚集状态和表面能，尤其对于纳米至微米级的超细粉末，这种扰动效应尤为显著，这种偏差会导致3d打印成品的力学性能出现不可控的离散，对高端制造的质量一致性构成严重挑战。传统测量理论框架未曾考虑此类由测量行为本身引入的、涉及多物理场耦合的复杂非线性效应，导致其测量精度已无法满足前沿应用的需求。
3、在上述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它...
【技术保护点】
1.一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，所述物理参数包括：颗粒表面分形粗糙度的局部曲率张量、颗粒链网络的拓扑渗流阈值、颗粒间范德华力的量子涨落主频率、颗粒表面羟基的质子隧穿速率、颗粒自旋角动量分布的手性不对称度以及测量腔体的电磁场零点能涨落谱密度。
3.根据权利要求1所述的一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，所述耦合状态判别模块用于：
4.根据权利要求3所述的一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，所述耦合状态判别模块通过...
【技术特征摘要】
1.一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，所述物理参数包括：颗粒表面分形粗糙度的局部曲率张量、颗粒链网络的拓扑渗流阈值、颗粒间范德华力的量子涨落主频率、颗粒表面羟基的质子隧穿速率、颗粒自旋角动量分布的手性不对称度以及测量腔体的电磁场零点能涨落谱密度。
3.根据权利要求1所述的一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，所述耦合状态判别模块用于：
4.根据权利要求3所述的一种粉末颗粒分级与粒径分布统计系统，其特征在于，所述耦合状态...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘常增，刘译遥，
申请(专利权)人：烟台科百达环保材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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