一种远、近场图像及近场相位的测量系统及方法技术方案

本申请实施例提供一种远、近场图像及近场相位的测量系统及方法，应用在光学测量技术领域，包括：测量装置对待测物体进行测量，得到待测物体的远场图像和近场图像；运算装置对远场图像和近场图像进行处理，得到泽尼克系数组合，基于泽尼克系数组合得到近场波前相位最佳初始猜测值；通过单强度迭代相位恢复算法对近场波前相位最佳初始猜测值进行优化，当单强度迭代相位恢复算法达到优化指标时，得到待测物体的近场相位值。实现同时采集待测物体和待测光束的远、近场图像，在单次曝光下即可实现物体远、近场及相位的同时测量，先进行初始猜测相位的最佳估计，再进行迭代相位重建过程。能够获得收敛精度更高、收敛效果更好的全局优化相位。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学测量，具体涉及一种远、近场图像及近场相位的测量系统及方法。

技术介绍

1、在超强超短激光、生物显微成像等领域中，对待测量光束或待测物体远、近场图像及其波前相位这些关键信息的测量有着重要的意义。

2、测试人员使用两个电荷耦合(charge coupled device，简称为ccd)相机分别测量远、近场图像，再使用波前传感器对相位进行采集，但这种方法无法实现同时对待测量光束或待测量物体的远、近场图像及其波前相位进行测量。之后提出的gs算法，开创了利用远、近场光强信息迭代恢复出近场波前相位的先河，使用该算法及其各类改进算法(如误差减小算法(er)、混合输入输出算法(hio)等)有望同时满足全要素测量需求。

3、但这类相位恢复算法存在有初值敏感、迭代容易停滞的情况。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种远、近场图像及近场相位的测量系统及方法，用于同时对待测物体的远、近场图像及相位进行测量。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种远近场图像及近场相位的测量系统，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种远、近场图像及近场相位的测量系统，其特征在于，所述测量系统包括测量装置和运算装置；

2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述近场成像部件包括第一透镜和第二透镜；所述远场成像部件包括第三透镜；

3.如权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述第一透镜和第二透镜的焦距相同，所述第三透镜的焦距是所述第一/第二透镜的两倍。

4.如权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述第一透镜、所述第二透镜、所述第三透镜为非球面透镜或者消色差透镜。

5.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述第一子光束的光束能量是所述第二子光束的光束能量的1...

【技术特征摘要】

1.一种远、近场图像及近场相位的测量系统，其特征在于，所述测量系统包括测量装置和运算装置；

2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述近场成像部件包括第一透镜和第二透镜；所述远场成像部件包括第三透镜；

3.如权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述第一透镜和第二透镜的焦距相同，所述第三透镜的焦距是所述第一/第二透镜的两倍。

4.如权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述第一透镜、所述第二透镜、所述第三透镜为非球面透镜或者消色差透镜。

5.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述第一子光束的光束能量是所述第二子光束的光束能量的1000～10000倍。

6.一种远、近场图像及近场相位的测量方法，其特征在于，应用于包括测量装置和运算装置的测量系统，所述方法包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：施炳楠，於亮红，梁晓燕，
申请(专利权)人：张江国家实验室，
类型：发明
国别省市：