【技术实现步骤摘要】
本技术涉及长度测量，具体为一种升降式激光测长装置。
技术介绍
1、在工业生产和科学研究等众多领域，长度测量是一项至关重要的任务，随着科技水平的不断提高，人们往往才用到激光来进行测长，激光干涉测量是激光测长的一种重要方法，它利用激光的相干性，通过测量干涉条纹的移动来确定物体的长度变化，由于激光的波长非常短，常见的氦氖激光波长为632.8nm，能够实现极高精度的测量，根据干涉原理，干涉条纹移动一个周期，对应的长度变化为激光波长的一半，即可以达到亚微米甚至纳米级的测量精度，与传统测量方法相比，激光测量系统的稳定性更高。
2、中国技术专利公告号：cn 214467150 u，公开了：升降式激光测长装置，该升降式激光测长装置，易于安装的特点，升降机构通过第二安装架与第一安装架连接，其整体质量轻，方便微调和定位，减少了现场施工难度，并且定位精度高，升降机构采用双导杆气缸，大直径的活塞加上导杆的限位，保证每次升降都定位在极小误差范围内，但该升降式激光测长装置，未设计测量物的限位结构，容易导致测量在运输的过程当中，以及加工的过程当中发生偏移...
【技术保护点】
1.一种升降式激光测长装置，包括输送架(1)以及输送架(1)一端固定安装的切割平台(9)，其特征在于：所述输送架(1)外表面的两侧均固定安装有支撑块(2)，所述支撑块(2)远离输送架(1)的另一端固定安装有安装至输送架(1)上的固定板(3)，所述固定板(3)远离输送架(1)的设置有滑座(4)，所述滑座(4)远离固定板(3)的另一端螺纹连接有贯穿所述滑座(4)并延伸至固定板(3)和输送架(1)内部的固定栓(7)，所述输送架(1)上设置有与转辊(6)相接触的测量物本体(8)，所述切割平台(9)上固定安装有测量组件(14)和切割组件(15)以及限位板(16)。
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【技术特征摘要】
1.一种升降式激光测长装置，包括输送架(1)以及输送架(1)一端固定安装的切割平台(9)，其特征在于：所述输送架(1)外表面的两侧均固定安装有支撑块(2)，所述支撑块(2)远离输送架(1)的另一端固定安装有安装至输送架(1)上的固定板(3)，所述固定板(3)远离输送架(1)的设置有滑座(4)，所述滑座(4)远离固定板(3)的另一端螺纹连接有贯穿所述滑座(4)并延伸至固定板(3)和输送架(1)内部的固定栓(7)，所述输送架(1)上设置有与转辊(6)相接触的测量物本体(8)，所述切割平台(9)上固定安装有测量组件(14)和切割组件(15)以及限位板(16)。
2.根据权利要求1所述的一种升降式激光测长装置，其特征在于：所述测量组件(14)包括位于所述切割平台(9)上截面呈“三角形”结构的加强块(1401)和固定架(1402)，所述固定架(1402)远离切割平台(9)的另一端固定安装有电机(1403)，所述电机(1403)输出轴上固定安装有丝杆(1404)，所述固定架(1402)内表面固定安装有滑动杆(1405)，所述滑动杆(1405)外表面滑动安装有与所述丝杆(1404)为螺纹连接的滑动块(1406)，所述滑动块(1406)远离丝杆(1404)的另一端固定安装有限位块(1407)，所述加强块(1401)的外表面与固定架(1402)的外表面相接触。
3.根据权利要求2所述的一种升降式激光测长装置，其特征在于：所述限位块(1407)远离滑动块(1406)的另一端设置有延伸座(1409)，所述限位块(1407)远离滑动块(1406)的另一端设置有贯穿所述限位块(1407)和延伸座(1409)的定位栓二...
【专利技术属性】
技术研发人员：房鹤飞，刘贵祥，赵越超，
申请(专利权)人：上海市质量监督检验技术研究院，
类型：新型
国别省市：
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