温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请实施例提供一种远、近场图像及近场相位的测量系统及方法，应用在光学测量技术领域，包括：测量装置对待测物体进行测量，得到待测物体的远场图像和近场图像；运算装置对远场图像和近场图像进行处理，得到泽尼克系数组合，基于泽尼克系数组合得到近场波前...
该专利属于张江国家实验室所有，仅供学习研究参考，未经过张江国家实验室授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。