基于单能质子的单粒子效应评估方法技术

本申请属于单粒子效应测试领域，具体涉及了一种基于单能质子的单粒子效应评估方法，旨在解决单粒子效应检测成本较高的问题。包括：基于电路尺寸或历史重离子数据筛选待检测电路；确定待检测电路的功能类型和错误类型；基于功能类型和错误类型，在选取的试验能量点进行单能质子试验，获取试验能量点下的试验错误截面；选取至少两个不同的理论能量点，并获取理论错误截面；基于各个能量点的能量、错误截面，以及各能量和错误截面之间的参数关系，获取用于评估待检测电路单粒子效应的在轨错误率。本申请通过减少试验能量点，增加理论能量点，能够仅通过一个试验能量点得到单粒子效应评估结果，大大降低了时间成本和资金成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于单粒子效应测试领域，具体涉及了一种基于单能质子的单粒子效应评估方法、系统、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、航天任务鼓励使用商用货架器件(cots)，减少设计、开发、测试和评估成本，以满足日益增长的商业发射计划，并提高系统性能。由于宇航空间存在的辐射环境会对卫星产生辐射损伤，影响卫星的性能和功能，必须采取相应辐射评估措施，确保上天器件产品的风险可控。

2、当前传统的地面单粒子试验通常需要开展至少3个粒子试验用于构成和验证器件的抗单粒子性能指标，费用高且时间长，对于大量商用非加固器件，传统方法的标准可能过高，影响任务进度，无法满足商业航天低成本的需求。

技术实现思路

1、为了解决现有技术中的上述问题，即单粒子效应检测成本较高的问题，本申请第一方面，提出了一种基于单能质子的单粒子效应评估方法，包括：

2、步骤s10，基于电路尺寸或历史重离子数据筛选待检测电路；

3、步骤s20，基于待检测电路实现各功能的工作时间以及工作状态，确定待检测电路的功能类型以及功能类型对应的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述获取在轨错误率，包括：

3.根据权利要求1所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述任一功能类型包括有多种功能模式，所述获取所述试验能量点下的试验错误截面，包括：

4.根据权利要求3所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述统计任一功能模式在所述试验能量点下的错误截面，包括：

5.根据权利要求4所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述获取所述理论能量点对应的理论错...

【技术特征摘要】

1.一种基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述获取在轨错误率，包括：

3.根据权利要求1所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述任一功能类型包括有多种功能模式，所述获取所述试验能量点下的试验错误截面，包括：

4.根据权利要求3所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述统计任一功能模式在所述试验能量点下的错误截面，包括：

5.根据权利要求4所述的基于单能质子的单粒子效应评估方法，其特征在于，所述获取所述理论能量点对应的理论错误截面，包括：

6.根据权利要求1所述的基...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄斯翀，郑宏超，董涛，毕潇，缑纯良，张健鹏，张彦龙，王亮，赵元富，
申请(专利权)人：北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：