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本申请属于单粒子效应测试领域，具体涉及了一种基于单能质子的单粒子效应评估方法，旨在解决单粒子效应检测成本较高的问题。包括：基于电路尺寸或历史重离子数据筛选待检测电路；确定待检测电路的功能类型和错误类型；基于功能类型和错误类型，在选取的试验能...
该专利属于北京微电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京微电子技术研究所授权不得商用。

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