【技术实现步骤摘要】
本技术属于检测装置,特别是涉及一种新型硅片内部结构无损检测装置。
技术介绍
1、在将硅片制成电池片之前,需要对硅片进行一系列缺陷检测。现有的对硅片内部检测时,通常都是人手持着进行检测,在检测过程中很可能的对硅片造成损坏,影响检测效果。
2、为此,我们提供了一种新型硅片内部结构无损检测装置,用以解决上述中的问题。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题,本技术是通过以下技术方案实现的:
2、本技术为一种新型硅片内部结构无损检测装置,包括底板;所述底板上方安装有放置机构,所述放置机构包括支撑板,所述支撑板外壁固定连接有电动推杆,所述电动推杆一端固定连接有放置板,所述放置板上方固定连接有第一滑杆,所述第一滑杆外壁滑动连接有压板,所述第一滑杆外壁螺纹连接有螺帽,且所述支撑板末端与所述底板上方固定连接。
3、本技术进一步设置为,所述底板上方安装有检测机构,所述检测机构包括电机,所述电机的动力输出端固定连接有螺纹杆,所述螺纹杆一端转动连接有固定板,且所述固定板末端与所
...【技术保护点】
1.一种新型硅片内部结构无损检测装置,包括底板(1);其特征在于:所述底板(1)上方安装有放置机构(2),所述放置机构(2)包括支撑板(201),所述支撑板(201)外壁固定连接有电动推杆(202),所述电动推杆(202)一端固定连接有放置板(203),所述放置板(203)上方固定连接有第一滑杆(204),所述第一滑杆(204)外壁滑动连接有压板(205),所述第一滑杆(204)外壁螺纹连接有螺帽(206),且所述支撑板(201)末端与所述底板(1)上方固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型硅片内部结构无损检测装置,其特征在于,所述底板(1)上方安装
...【技术特征摘要】
1.一种新型硅片内部结构无损检测装置,包括底板(1);其特征在于:所述底板(1)上方安装有放置机构(2),所述放置机构(2)包括支撑板(201),所述支撑板(201)外壁固定连接有电动推杆(202),所述电动推杆(202)一端固定连接有放置板(203),所述放置板(203)上方固定连接有第一滑杆(204),所述第一滑杆(204)外壁滑动连接有压板(205),所述第一滑杆(204)外壁螺纹连接有螺帽(206),且所述支撑板(201)末端与所述底板(1)上方固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型硅片内部结构无损检测装置,其特征在于,所述底板(1)上方安装有检测机构(3),所述检测机构(3)包括电机(301),所述电机(301)的动力输出端固定连接有螺纹杆(302),所述螺纹杆(302)一端转动连接有固定板(303),且所述固定板(303)末端与所述底板(1)上方固定连接,所述螺纹杆(302)外壁螺纹连接有u型移动板(304),且所述u型移动板(304)末端与所述底板(1)外壁滑动连接,所述u型移动板(304)上方安装有摄像机(305),且所述电机(301)一侧与所述底板(1)上方连接。
3.根据权利要求2所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:赖学明,
申请(专利权)人:苏州耀德半导体有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。