【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于测量照射源的性能的方法、性能指标的用途、一种计算机程序元素、一种非暂态计算机可读数据介质、一种测量装置、一种用于测量照射源的性能的系统、测量装置的用途。
技术介绍
1、市场上销售的光源必须满足关于其性能特征的某些要求，因此在生产后要进行测试。在示例中，性能特征与例如但不限于应用特性或眼睛安全性相关，但不限于由规范(比如眼睛在一定距离处捕获的光的最大功率)规定的眼睛安全性。光源可以是发射图案化光的激光器，这种图案化光具有若干光斑并且每个光斑的功率各不相同。因此，需要对多个光斑进行研究，以确保足够的性能特征。
2、cn105510004a提供了一种用于使用光电二极管来检测激光二极管的性能的方法。对于多个光源来说，这种繁琐的工作耗费大量的时间和资源，尤其是在生产光源(例如移动电话的光源)时更是一种负担。
3、因此，期望快速且可靠的测量方法。
技术实现思路
1、在一方面，本披露内容涉及一种用于测量发射电磁辐射的照射源的性能的方法，该方法包括：
<...【技术保护点】
1.一种用于测量发射电磁辐射的照射源的性能的方法，该方法包括：
2.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，该对象与低于0.2的透射率相关联，和/或其中，该对象是不透明的。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，确定与该一个或多个图像的两个或更多个不同部分相关联的两个或更多个性能指标，并且其中，提供该一个或多个性能指标包括生成与该两个或更多个性能指标相关联的性能指标图。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，该性能指标图包括根据与该一个或多个图像相关联的该强度数据的空间分布的该两个或更多个性能指标的空间分布。
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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于测量发射电磁辐射的照射源的性能的方法，该方法包括：
2.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，该对象与低于0.2的透射率相关联，和/或其中，该对象是不透明的。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，确定与该一个或多个图像的两个或更多个不同部分相关联的两个或更多个性能指标，并且其中，提供该一个或多个性能指标包括生成与该两个或更多个性能指标相关联的性能指标图。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，该性能指标图包括根据与该一个或多个图像相关联的该强度数据的空间分布的该两个或更多个性能指标的空间分布。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，确定该照射源的性能指标进一步基于该一个或多个图像中的至少该部分的位置和/或与该一个或多个图像中的至少该部分的该电磁辐射到该对象上的投影相关联的形状和/或与该一个或多个图像的至少该部分相关联的大小。
6.根据权利要求4所述的方法，其中，该位置是基于应用于该一个或多个图像的射束剖面分析、该形状、该两个或更多个不同部分之间的距离和/或该大小来确定的。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，该电磁辐射是相干的，和/或是从发光二极管和/或从超发光二极管发射的。
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【专利技术属性】
技术研发人员：P·费耶斯，J·D·A·科洛切克，P·辛德勒，S·纳普，A·施密特，C·邦西诺，B·莱因，
申请(专利权)人：特里纳米克斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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