光学应变计制造技术

一种光学应变计，其包含至少一个光波导（５），所述光波导（５）被固定在薄的底层（１）上。在此，所述光波导（５）含有至少一个带有用于获取应变的光纤布拉格光栅（６）的区段（１０）。本发明专利技术的特征在于，所述光波导（５）在光纤布拉格光栅区段（１０）以外在该光纤布拉格光栅区段（１０）两侧通过两个固定元件（３，４）覆盖。因此，所述光波导（５）在光纤布拉格光栅区段（１０）以外力锁合地固定在其底层（１）上。在这两个侧面的固定元件（３，４）之间，相对软的弹性的稳固元件（２）包围所述光波导（５），所述稳固元件（２）至少将布拉格光栅区段（１０）形状锁合地固定在其底层（１）上。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种根据权利要求1前序部分所述的光学应变计，以及一 种根据权利要求11前序部分所述的用于制造该光学应变计的方法。
技术介绍
光学应变计以各种形式为人所知并且主要由薄膜状的载体层组成或者 注塑在这样的载体层中。这些载体层包括底层，光波导固定在该底层上， 该光波导包含具有光纤布拉格光栅的区段。馈送到光波导中的、具有一定 波长的相干光束通过这样的光纤布拉格光栅反射并且能够作为反射峰被检 测到。如果这样的光学应变计被应用在变形体上，则反射峰的波长由于应 变而与该应变成比例地变化。因此，这样的光学应变计可以与具有电阻栅 的电学应变计类似地被应用并且能够用于检测不同的物理量。在实践中发现，这样的反射峰由于正交于光纤方向的机械应力或者由 于横向指向的应变场而具有多个反射峰值或者一个在宽度上显著增大的峰 值，该峰值在常见的分析计算装置中不能精确地用一个单一的波长进行解 算。这样的用于测量机械应力的光学应变计在EP 1 129 327B1中公开。在 此涉及一种光学应变计，该光学应变计构造为光纤瓣状体。该光学应变计 在此由构造为刚性平板的载体材料制成，在该载体材料上粘贴有一个光波 导，该本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学应变计，其包含至少一个光波导（５），所述光波导（５）被固定在薄的底层（１）上并且所述光波导（５）具有至少一个带有用于获取应变的光纤布拉格光栅（６）的区段（１０），其特征在于，所述光波导（５）在光纤布拉格光栅区段（１０）以外在该光纤布拉格光栅区段（１０）两侧通过两个固定元件（３，４）覆盖，所述光波导（５）通过所述固定元件（３，４）力锁合地固定在其底层（１）上，并且，所述光波导（５）在侧面的固定元件（３，４）之间被相对软的弹性的稳固元件（２）包围，所述稳固元件（２）至少将布拉格光栅区段（１０）形状锁合地固定在其底层（１）上。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：M克罗伊策，T基普，T克莱克斯，
申请(专利权)人：霍廷格鲍德温测量技术设备公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]