【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种具有背景校准和背景调准的测量放大器以及一种用于实施该种测量放大器的背景校准和背景调准的方法。
技术介绍
电输入信号借助测量放大器转换成测量值。在此,使用组件如放大器、模拟/数字转换器、滤波器等,借此对输入信号进行放大、数字化、滤波等,以便得到可使用的测量值。电输入信号可以由一个或多个测量传感器提供。相应地,测量放大器可以具有一个或多个通道。测量放大器的电路大多具有多个单个构件,其中,所述构件中的每一个具有自身公差。尤其在精确测量放大器的情况下,允许公差仅仅非常小。通过严格的选择方法还可以好地控制构件的原始公差,而几乎不能对单个构件的通过温度和老化引起的漂移行为(Driftverhalten)产生影响。申请人的精确测量放大器能够以高精确度(Klassengenauigkeit)5ppm、即0.0005%在物理极限的边缘处进行测量或者将输入信号转换成测量值。为了保证所述精确度并且也为了在多年期间保持恒定,需要设备内部的自动的校准和调准或自动调准。在此,循环地借助内部参考信号来补偿测量放大器的漂移并且通过这种方式在测量放大器的运行时间期间保持测量放大器的高精确度恒定。在测量放大器的启动阶段(Einlaufphase)之后,在这个过程中仅仅仍发生不易察觉的之后调准。在以前所使用的方法中,循环地对于一些时间中断测量并且借助两个参考点(零值和终值)来校正零点和增益。随后,可以再次继续测量。然 ...
【技术保护点】
一种用于无中断地校准并且调准用于N个测量信号(111;211,225;311,325)的测量放大器(103;203;303)的方法,所述测量放大器具有至少N+1个放大器装置(107,108;207,208,224;307,308,324)并且设置用于输出相应于所述N个测量信号的N个测量值,其中,适用N≥1,并且对于i=1至N实施以下步骤:给所述至少N+1个放大器装置中的第i放大器装置输送(S1)所述N个测量信号中的第i测量信号;输出(S2)通过所述第i放大器装置由所述第i测量信号产生的测量值;给所述至少N+1个放大器装置中的另一放大器装置输送(S3)至少两个第i参考信号(112,113;212,213;312,313);借助所述至少两个第i参考信号校准(S4)所述另一放大器装置,其中,求取所述另一放大器装置的零点误差和增益误差;如果对于所述另一放大器装置求取的误差中的至少一个误差位于对于所述误差预给定的阈值之上,则调准(S5)所述另一放大器装置;给所述另一放大器装置输送(S6)所述第i测量信号;输出(S7)通过所述另一放大器装置由所述第i测量信号产生的测量值;给所述第i放大器装置输送( ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.09.06 DE 102013014876.61.一种用于无中断地校准并且调准用于N个测量信号(111;211,225;
311,325)的测量放大器(103;203;303)的方法,所述测量放大器具有
至少N+1个放大器装置(107,108;207,208,224;307,308,324)并
且设置用于输出相应于所述N个测量信号的N个测量值,其中,适用N≥1,
并且对于i=1至N实施以下步骤:
给所述至少N+1个放大器装置中的第i放大器装置输送(S1)所述N
个测量信号中的第i测量信号;
输出(S2)通过所述第i放大器装置由所述第i测量信号产生的测量值;
给所述至少N+1个放大器装置中的另一放大器装置输送(S3)至少两
个第i参考信号(112,113;212,213;312,313);
借助所述至少两个第i参考信号校准(S4)所述另一放大器装置,其
中,求取所述另一放大器装置的零点误差和增益误差;
如果对于所述另一放大器装置求取的误差中的至少一个误差位于对于
所述误差预给定的阈值之上,则调准(S5)所述另一放大器装置;
给所述另一放大器装置输送(S6)所述第i测量信号;
输出(S7)通过所述另一放大器装置由所述第i测量信号产生的测量
值;
给所述第i放大器装置输送(S8)至少两个参考信号;
借助所述至少两个参考信号校准(S9)所述第i放大器装置,其中,
求取所述第i放大器装置的零点误差和增益误差;以及
如果对于所述第i放大器装置求取的误差中的至少一个误差位于对于
所述误差预给定的阈值之上,则调准(S10)所述第i放大器装置。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,适用j≥1并且
所述另一放大器装置是所述至少N+1个放大器装置中的第N+j放大器
装置(107;207),
为了校准所述第i放大器装置(108;208;224),使用所述至少两个
第i参考信号,以及
在调准所述第i放大器装置的步骤之后,再次给所述第i放大器装置输
送所述第i测量信号(111;211,225)并且输出通过所述第i放大器产生
的测量值(116;216,226)。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,适用j≥1并且
对于i=1:
所述另一放大器装置是所述至少N+1个放大器装置中的第N+j放大器
装置(307),为了校准所述第i放大器装置(308)使用至少两个第i+1参
考信号,并且在调准所述第i放大器装置的步骤之后,给所述第i放大器装
置输送所述N个测量信号中的至今已输送给所述至少N+1个放大器装置中
的第i+1放大器装置(324)的测量信号并且输出通过所述第i放大器装置
由所述测量信号产生的测量值(316),
对于1<i<N:
所述另一放大器装置是所述至少N+1个放大器装置中的第i-1放大器
装置,为了校准所述第i放大器装置使用至少两个第i+1参考信号,并且在
调准所述第i放大器装置的步骤之后,给所述第i放大器装置输送所述N
个测量信号中的至今已输送给所述至少N+1个放大器装置中的第i+1放大
器装置的测量信号并且输出通过所述第i放大器装置由所述测量信号产生
的测量值,以及
对于i=N:
所述另一放大器装置是所述至少N+1个放大器装置中的第i-1放大器
装置(308),为了校准所述第i放大器装置(324)使用至少两个第N+j参
考信号,并且在调准所述第i放大器装置的步骤之后,给所述第i放大器装
置输送所述N个测量信号中的至今已输送给所述至少N+1个放大器装置中
的第N+j放大器装置(307)的测量信号并且输出通过所述第i放大器装置
由所述测量信号产生的测量值(326)。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述测量放大器具有至少2×N
个放大器装置,其中,
所述另一放大器装置是所述至少2×N个放大器装置中的第i+N放大器
\t装置,
为了校准所述第i放大器装置,使用至少两个第i参考信号,以及
在调准所述第i放大器装置的步骤之后,再次给所述第i放大器装置输
送所述第i测量信号并且输出通过所述第i放大器装置产生的测量值。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述测量放...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·M·沙克,H·基青,
申请(专利权)人:霍廷格鲍德温测量技术设备公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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