具有内部数据存储器的测量参量传感器制造技术

本发明专利技术涉及一种具有内部数据存储器(32)的测量参量传感器(3)，一种用于所述测量参量传感器(3)的处理设备(2)以及一种用于将数据存储在所述测量参量传感器(3)的内部数据存储器(32)中的方法。内部数据存储器(32)具有多个存储区域。在所述多个存储区域的至少两个存储区域中分别存储相应于测量值在确定的测量值范围中出现的频率的数值。因此，将关于测量参量传感器的负荷的数据直接存储在所述测量参量传感器中并且之后直接且明确地分配给所述测量参量传感器。因此，能够实现数据的防篡改的存储，并且如果例如由终端用户进行抱怨，则测量参量传感器的制造商或销售商可以确定所述测量参量传感器是否已经超负荷了。此外，能够实现对测量参量传感器的仍预期的使用寿命和/或测量准确性的推断。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种具有内部数据存储器的测量参量传感器，一种用于所述测量参量传感器的处理设备以及一种用于将数据存储在所述测量参量传感器的内部数据存储器中的方法。
技术介绍
已知具有数据存储器的测量参量传感器，在所述数据存储器中存储测量参量传感器的特征值。例如，由DE 101 30 215 B4已知一种具有数据存储模块的测量参量传感器。在所述数据存储模块中可以存储特征值，如其通常保持在分离的数据表或校准协议中那样。如果测量参量传感器与分析处理设备连接，则可以将存储在数据存储模块中的特征值传输给分析处理设备。此外，过去存在以所谓的即插即量(Plug&Measure)技术来装配测量参量传感器的努力。这应相应于所谓的即插即用(Plug&Play)技术，借此使计算机配件——如鼠标与计算机连接。已经开发了用于测量参量传感器的标准化的电子数据表，所谓的传感器电子数据表(TEDS)或者电子传感器数据表。其在标准IEEE 1451.4中描述并且可以存储在测量参量传感器的EEPROM中。其中可以包含例如制造商数据、型号、序列号、测量范围与测量灵敏度以及校准数据。在已知的具有数据存储器的测量参量传感器中，静态数据分别存储在数据存储器中。所述静态数据满足与否则保持在分离的数据表中的特征值相同的功能，因此能够实现测量参量传感器和所述测量参量传感器的校准的辨识。然而不已知的是，在所述数据存储器中也存储动态数据，如测量参量传感器的过程数据。在使用测量参量传感器技术的应用中，部分存在将过程数据直接存储在测量参量传感器中的需求。这适于机械制造领域并且同样适于其他
例如，在测量参量传感器的制造商处或(如果不发生向终端用户的直销)在所述测量参量传感器的销售商处可能存在将过程数据直接存储在测量参量传感器中的需求。终端用户也可能具有这种需求。
技术实现思路
因此，本专利技术的任务是提供一种具有内部数据存储器的测量参量传感器、一种用于所述测量参量传感器的处理设备和一种用于将数据存储在所述测量参量传感器的内部数据存储器中的方法，借此能够实现将在测量参量传感器的运行中产生的过程数据直接存储在测量参量传感器中。应能够在运行中并且也在测量参量传感器从测量装置拆卸之后读取数据，在所述测量装置中使用所述测量参量传感器。所述任务借助根据权利要求1所述的方法、根据权利要求6所述的处理设备、根据权利要求11所述的测量参量传感器和根据权利要求16所述的测量系统来解决。根据本专利技术的第一构型，提供一种用于将数据存储在测量参量传感器的内部数据存储器中的方法。所述方法包括确定测量参量传感器的测量值落入多个测量值范围的哪个测量值范围中的步骤、使相应于所确定的测量值范围的数值改变预确定的值的步骤以及将已改变的数值存储在测量参量传感器的内部数据存储器的多个存储区域的至少两个存储区域的相应存储区域中的步骤。这些步骤可以在运行过程中实施。因此，它们能够实现将在测量参量传感器的运行中产生的过程数据——即数值直接存储在测量参量传感器中。存储在测量参量传感器的内部数据存储器中的数值可以直接分配给测量参量传感器并且因此直接分配给用户。由此，可以不再发生混淆。在测量参量传感器的外部——例如在外部的后续电子器件(Folgeelekronik)中或在测量参量传感器的制造商的全球数据库中不需要附加的存储可能性。因此，可以节省用于所述附加的存储可能性的开销。此外，所述数值不能由用户篡改，因为能够仅仅借助特定的功能性实现将数值写入内部数据存储器中而用户不访问所述内部数据存储器。根据本专利技术的基于所述第一构型的第二构型，所述方法包括读取存储在至少两个存储区域中的数值的步骤以及将所读取的数值传输给处理设备的步骤。能够在运行过程中并且也在测量参量传感器从测量装置拆卸之后读取数值，在所述测量装置中使用所述测量参量传感器。处理设备属于测量装置或者是测试或分析装置的一部分视情况而定。因此，不仅测量参量传感器的用户而且制造商或销售商可以读取数值并且由所述数值的分析例如推断出测量参量传感器的仍预期的使用寿命和/或测量准确性。此外，制造商或销售商可以根据测量参量传感器的由用户引起的负荷以及尤其超负荷来评判：由于测量参量传感器的损坏用户的保修要求是有权利的还是没有权利的。根据本专利技术的基于以上构型之一的第三构型，多个测量值范围中的第一测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的50％。多个测量值范围中的其他测量值范围分别开始于大于所述第一测量值范围的测量值。不仅所允许的最大测量值上方的测量值而且虽然位于所述所允许的最大测量值下方但位于所允许的整个测量范围的上端处的测量值相比于位于所允许的整个测量范围的下端处的或中间的测量值对测量参量传感器的使用寿命和测量准确性具有更大的影响。同样检测所述测量值能够更准确地推断出测量参量传感器的仍预期的使用寿命和/或测量准确性。根据本专利技术的基于以上构型之一的第四构型，设置至少五个测量值范围和相应的存储区域。通过测量值范围的更精细的划分能够增大对测量参量传感器的仍预期的使用寿命和/或测量准确性的推断的准确性。根据本专利技术的基于以上构型之一的第五构型，多个测量值范围的第一测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的50％。多个测量值范围的第二测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的75％。多个测量值范围的第三测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的100％。多个测量值范围的第四测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的110％。多个测量值范围的第五测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的120％。多个测量值范围的第六测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的130％。借助测量值范围的所述特定配置能够特别准确地推断出测量参量传感器的仍预期的使用寿命和/或测量准确性。根据本专利技术的第六构型，提供一种用于具有内部数据存储器的测量参量传感器的处理设备。所述处理设备包括用于处理测量参量传感器的电测量信号以及产生相应的测量值的处理装置和用于传输电信号的第一传输装置。处理装置设置用于确定测量值落入多个测量值范围的哪个测量值范围中、使相应于所确定的测量值范围的数值改变预确定的值以及将已改变的数值存储在测量参量传感器的内部数据存储器的多个存储区域的至少两本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于将数据存储在测量参量传感器(3)的内部数据存储器(32)中的方法，所述方法具有以下步骤：确定(S1)所述测量参量传感器(3)的测量值落入多个测量值范围的哪个测量值范围中；使相应于所确定的测量范围的数值改变(S2)预确定的值；将已改变的数值存储(S3)在所述测量参量传感器(3)的内部数据存储器(32)的多个存储区域的至少两个存储区域的相应存储区域中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.07.23 DE 102012014584.51.一种用于将数据存储在测量参量传感器(3)的内部数据存储器(32)
中的方法，所述方法具有以下步骤：
确定(S1)所述测量参量传感器(3)的测量值落入多个测量值范围的
哪个测量值范围中；
使相应于所确定的测量范围的数值改变(S2)预确定的值；
将已改变的数值存储(S3)在所述测量参量传感器(3)的内部数据存
储器(32)的多个存储区域的至少两个存储区域的相应存储区域中。
2.根据权利要求1所述的方法，所述方法具有以下步骤：
读取存储在所述至少两个存储区域中的数值；
将所读取的数值传输给处理设备(2)。
3.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其中，所述多个测量值范
围的第一测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的50％，
而所述多个测量值范围的其他测量值范围分别开始于比所述第一测量值范
围更大的测量值。
4.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其中，设有至少五个测量
值范围和相应的存储区域。
5.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其中，所述多个测量值范
围的第一测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的50％，
所述多个测量值范围的第二测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的
最大测量值的75％，所述多个测量值范围的第三测量值范围开始于以下测
量值：其为所允许的最大测量值的100％，所述多个测量值范围的第四测量
值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的110％，所述多个测
量值范围的第五测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值
的120％，而所述多个测量值范围的第六测量值范围开始于以下测量值：其

\t为所允许的最大测量值的130％。
6.一种用于具有内部数据存储器(32)的测量参量传感器(3)的处理
设备(2)，所述处理设备具有：
用于处理所述测量参量传感器(3)的电测量信号并且产生相应的测量
值的处理装置(21)；
用于传输电信号的第一传输装置(22)，其中，
所述处理装置(21)设置用于确定所述测量值落入多个测量值范围的
哪个测量值范围中、使相应于所确定的测量值范围的数值改变预确定的值
以及将已改变的数值存储在所述测量参量传感器(3)的内部数据存储器
(32)的多个存储区域的至少两个存储区域的相应存储区域中；
所述第一传输装置(22)设置用于将已改变的数值传输给所述测量参
量传感器(3)。
7.根据权利要求6所述的处理设备(2)，其中，
所述处理装置(21)设置用于读取存储在所述至少两个存储区域中的
数值，
所述第一传输装置(22)设置用于接收所读取的数值。
8.根据权利要求6或7所述的处理设备(2)，其中，所述多个测量值
范围的第一测量值范围开始于以下测量值：其为所允许的最大测量值的
50％，而所述多个测量值范围的其他测量值范围分别开...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·哈勒，U·孔克尔，W·维耶尔，S·韦斯勒，
申请(专利权)人：霍廷格鲍德温测量技术设备公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE