利用线光源的光学系统横向放大率测量方法与装置制造方法及图纸

技术编号:7617562 阅读:242 留言:0更新日期:2012-07-28 18:09
利用线光源的光学系统横向放大率测量方法与装置属于以采用光学方法为特征的计量设备领域;本方法是以线光源为目标得到线状图像,在频域中寻找像素间距的取值范围,并根据与像素间距相关的实际调制传递函数曲线与理论调制传递函数曲线在最小二乘条件下重合度最好,利用搜索算法计算得到光学系统横向放大率;本装置在该装置光轴方向与图像传感器行或列方向所确定的平面内,线光源呈弯曲状,且所述的线光源上任意位置都准焦成像到图像传感器表面;采用本发明专利技术测量光学系统横向放大率,有利于减小单次测量结果之间的误差,进而提高测量结果重复性。

【技术实现步骤摘要】

利用线光源的光学系统横向放大率测量方法与装置属于以采用光学方法为特征的计量设备领域,尤其涉及一种以线光源为目标,在频域利用线光源像来測量光学系统横向放大率的方法与装置。
技术介绍
光学系统横向放大率是医学以及精密测量领域中非常重要的參数,它不仅标明光学系统的技术指标,同样可以利用这项技术指标开展其它參数的精密測量。然而,如何获得 ー个光学系统的横向放大率,是开展这项工作的首要问题。—、光学系统横向放大率测量方法问题1987年07月,《医学物理》发表文章《论显微镜中物镜的放大率》,发现了显微镜中物镜的横向放大率经验公式与实际测量过程中产生的矛盾,该文章虽然没有给出物镜横向放大率的測量方法,但是该矛盾却引出了光学系统横向放大率的測量问题。而后续的一些文章,均显现出光学系统横向放大率测量的必要性。1999年03月,《黄山高等专科学校学报》第I卷第2期发表文章《关于几何光学中横向放大率的讨论》,该文章讨论了光学系统横向放大率的数学表达式,该方法的适用条件是近轴条件下的理想光学系统成像,而当这些条件不满足时,本文所总结的公式与实际光学系统横向放大率之间的误差却没有说明,更缺少对于这种误差,如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:谭久彬赵烟桥刘俭
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

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