【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于表面质量检查设备领域,具体的是检测电子元件表面缺陷的装置。
技术介绍
随着电子科技技术的进步,对电子元件表面质量的要求越来越高。对于表面有缺陷的电子元件,更加其缺陷的大小,会有不同的处理方式。如表面脏污,会进行清洗;表面有小划痕,可以进行打磨;表面划痕过大,可能需要报废等;且根据表面脏污的范围,也会有不同的清洗方式。然而,现有的电子元件表面缺陷的检测通常是利用照相机拍摄出电子元件的表面情况的照片,然后通过拍摄出的照片来判断电子元件的表面质量。然后,表面有划痕和表面脏污在照片中的表现及其相似,这时,容易将表面脏污的情况归类为表面有划痕的产品,对其进行表面缺陷修复或者报废。且,对于表面缺陷的大小,通常通过肉眼观察,或者用尺比量,然而,照相机拍摄出的照片上所显示的表面缺陷的大小和实际情况相差甚远,因此,通常造成错误的处理方式。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种检测电子元件表面缺陷的装置,能准确反应电子元件表面缺陷的尺寸。本专利技术采用的技术方案是:检测电子元件表面缺陷的装置,包括支座,可拆卸安装于支座的光源、放大镜和摄像镜头,所述光源、放大镜和摄像镜头由下至上依次布置;在光源下方设有电子元件检测台,所述电子元件检测台包括与支座可拆卸连接的反射本体,在反射本体上设有垂直贯穿反射本体的方形通孔,所述方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜,所述平面镜的镜面由下至上向外延伸;在通孔正下方设有安装于支座的检测平台,所述检测平台的四周标有刻度,所述刻度在平面镜的反射范围内。进一步的,所述通孔的上端大于通孔的下端。进一步的,所述支座包括左立板、右立 ...
【技术保护点】
检测电子元件表面缺陷的装置,其特征在于:包括支座(1),可拆卸安装于支座(1)的光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8),所述光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8)由下至上依次布置;在光源(7)下方设有电子元件检测台,所述电子元件检测台包括与支座(1)可拆卸连接的反射本体(3),在反射本体(3)上设有垂直贯穿反射本体(3)的方形通孔(4),所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5),所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸;在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的检测平台(6),所述检测平台(6)的四周标有刻度(61),所述刻度(61)在平面镜(5)的反射范围内。
【技术特征摘要】
1.检测电子元件表面缺陷的装置,其特征在于:包括支座(1),可拆卸安装于支座(1)的光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8),所述光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8)由下至上依次布置;在光源(7)下方设有电子元件检测台,所述电子元件检测台包括与支座(1)可拆卸连接的反射本体(3),在反射本体(3)上设有垂直贯穿反射本体(3)的方形通孔(4),所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5),所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸;在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的检测平...
【专利技术属性】
技术研发人员:廖兴旺,
申请(专利权)人:成都慧信实验设备有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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