【技术实现步骤摘要】
本公开一般地涉及测试用设计(design for testing，dft)，在具体实施例中，涉及用于减少测试时间的部分扫描链重新配置。
技术介绍
1、测试用设计(dft)用于数字逻辑设计中，以确保能够有效地测试集成电路(ic)的功能性和制造缺陷。dft技术旨在简化和增强ic的可测试性，减少测试所需的时间和资源。
2、扫描链是一种广泛使用的dft技术，其使得能够对集成电路进行有效的测试。在扫描链中，附加的触发器(被称为扫描触发器)被插入到设计的时序元件中。这些扫描触发器形成移位寄存器，该移位寄存器允许捕捉和观察设计的内部状态。扫描链通过测试码型(test pattern)中的串行移位并观察对应的输出，使得能够对复杂的时序电路进行有效的测试。这种技术通过提供内部节点的可控制性和可观察性，提高了可测试性，从而允许更轻松地识别故障部件。
3、扫描压缩技术减少了测试大型复杂设计所需的测试数据。随着ic的复杂度增加，实现高故障覆盖率所需的测试数据量也显著增加，从而导致更长的测试时间和更高的成本。扫描压缩技术通过压缩测试数据和...
【技术保护点】
1.一种用于测试扫描链的方法，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述扫描链被分段成彼此顺序的第一区段和第二区段，并且其中，在所述重新布置的扫描链中，第一区段的位置顺序地位于在第二区段的位置之后。
3.根据权利要求2所述的方法，其中第一区段和第二区段具有相同的长度。
4.根据权利要求1所述的方法，其中所述扫描链是第一扫描链，所述方法进一步包括响应于第一扫描链被重新布置而保留与第一扫描链相邻的第二扫描链的原始配置。
5.根据权利要求4所述的方法，其中所述选择信号是第一选择信号，所述方法进一步包括：
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【技术特征摘要】
1.一种用于测试扫描链的方法，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述扫描链被分段成彼此顺序的第一区段和第二区段，并且其中，在所述重新布置的扫描链中，第一区段的位置顺序地位于在第二区段的位置之后。
3.根据权利要求2所述的方法，其中第一区段和第二区段具有相同的长度。
4.根据权利要求1所述的方法，其中所述扫描链是第一扫描链，所述方法进一步包括响应于第一扫描链被重新布置而保留与第一扫描链相邻的第二扫描链的原始配置。
5.根据权利要求4所述的方法，其中所述选择信号是第一选择信号，所述方法进一步包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其中第一选择信号和第二选择信号是同一选择信号，并且在公共测试点寄存器处被断言。
7.根据权利要求5所述的方法，其中所述第一扫描链、第二扫描链和第三扫描链共享公共压缩电路、公共解压缩电路、公共组合逻辑或其组合。
8.一种扫描链，包括：
9.根据权利要求8所述的扫描链，其中所述扫描链被分段成彼此顺序的第一区段和第二区段，并且其中，在所述重新布置的扫描链中，第一区段的位置顺序地位于第二区段的位置之后。
10.根据权利要求9所述的扫描链，其中第一区段和第二区段具有相同的长度。
11.根据权利要求9所述的扫描链，其中第一多路复用器的第一输入端子被配置为接收测试码型，第一多路复用器的第二输入端子被配置为接收来自第二区段的输出信号，且第一多路复用器的输出端子被馈送到第一区段，其中第二多路复用器的第一输入端子被配置为接收来自第一区段的输出信号，第二多路复用器的第二输入端子被配置为接收测试码型，且第二多路复用器的输出端子被馈送到第二区段，其中第三多路复用器的第一输入端子被配置为接收来自第一区段的输出信号，第三多路复用器的第二输入端子被配置为接收来自第二区段的输出信号，并且第三多路复用器的输出端子被观察以确定故障状况。
12.根据权利要求8所述的扫描链，其中所述扫描链是第一扫描链，并且其中与第一扫描链相邻的第二扫描链响应于所述第一扫描链被重新布置...
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