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用于减少测试时间的部分链重新配置制造技术
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下载用于减少测试时间的部分链重新配置的技术资料
文档序号:44410086
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本公开涉及用于减少测试时间的部分链重新配置。根据一实施例,第一方面涉及一种用于测试扫描链的方法。该方法包括:将扫描链分段成两个或更多个区段;在每个区段的端点处添加相应的多路复用器,其中每对顺序区段共享在之间的公共多路复用器;将多路复用器的选...
该专利属于意法半导体国际公司所有,仅供学习研究参考,未经过意法半导体国际公司授权不得商用。
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