测量程序优化系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种测量程序优化系统，其运行于一具软件编程功能的测量设备上，以对该测量设备上的测量源程序进行优化处理。该测量设备包括一中央处理器及存储于该测量设备内的测量源程序。该测量源程序包括一程序头、若干测量元素及输出代码及一程序尾。该测量程序优化系统包括一源程序存储区、一优化模块及一用于存储优化后的目标程序的目标程序存储区。所述优化模块通过读取存储于源程序存储区内的测量源程序，优化处理后对应存入目标程序存储区，从而得到优化后的目标程序。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种程序优化系统及方法，尤其涉及一种对尺寸测量程序中结果输出 进行优化的。
技术介绍
在产品开发、生产及验收过程中，为保证产品品质，通常都需要采用专门的测量仪 器例如快速视像测量设备对产品尺寸进行快速测量并通过其自带的软件对测得的数据进 行实时采集、汇总和输出，以利于对产品检测数据进行统计分析。目前，大多数测量仪器的自带软件对测量数据的输出方式都有所限制，只能以固 定的文本方式输出，无法直观地进行数据检视和直接对数据进行进一步的统计分析。工作 人员在对测量得到的数据进行提取、转换过程中需要花费大量的时间且容易出错。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种对尺寸测量程序中结果输出进行优化的测量程序优化 系统。还有必要提供一种对尺寸测量程序中结果输出进行优化的测量程序优化方法。一种测量程序优化系统，其运行于一具软件编程功能的测量设备上，以对该测量 设备上的测量源程序进行优化处理；该测量设备包括一中央处理器及存储于该测量设备内 的测量源程序；该测量源程序包括一程序头、若干测量元素及输出代码及一程序尾；该测 量程序优化系统包括一优化模块及一用于存储优化后的目标程序的目标程序存储区本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量程序优化系统，其运行于一具软件编程功能的测量设备上，以对该测量设备上的测量源程序进行优化处理；该测量设备包括一中央处理器及存储于该测量设备内的测量源程序；该测量源程序包括一程序头、若干测量元素及输出代码及一程序尾；其特征在于：该测量程序优化系统包括一优化模块及一用于存储优化后的目标程序的目标程序存储区；所述优化模块包括一读取模块、一建立数据库连接模块、一结果输出模块及一关闭数据库连接模块；其中，该读取模块用于读取需优化的测量源程序；该建立数据库连接模块、结果输出模块及关闭数据库连接模块分别用于在源程序的程序头、测量元素及输出代码、程序尾后对应插入建立数据库连接代码、输出优化代码及关闭数...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢石河，王士伟，方兵，
申请(专利权)人：深圳富泰宏精密工业有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]