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本发明提供一种测量程序优化系统,其运行于一具软件编程功能的测量设备上,以对该测量设备上的测量源程序进行优化处理。该测量设备包括一中央处理器及存储于该测量设备内的测量源程序。该测量源程序包括一程序头、若干测量元素及输出代码及一程序尾。该测量程...该专利属于深圳富泰宏精密工业有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳富泰宏精密工业有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种测量程序优化系统,其运行于一具软件编程功能的测量设备上,以对该测量设备上的测量源程序进行优化处理。该测量设备包括一中央处理器及存储于该测量设备内的测量源程序。该测量源程序包括一程序头、若干测量元素及输出代码及一程序尾。该测量程...