【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，尤其涉及基于fpga的芯片测试方法和装置。
技术介绍
1、目前在半导体工业中，bist(built-in self-test，内置自测试)是一种被广泛应用的测试技术，适用于几乎所有电路。现有的bist测试装置通常包括tpg(test patterngenerator，测试图形生成器)、dut(device under test，受测电路)和ora(outputresponse analyzer，输出响应分析仪)，通过构建tpg在芯片内根据例化后的目标测试资源电路生成所测试向量并导入至dut中，通过构造ora以采集dut生成的输出数据并处理分析是否符合预期，实现对dut的功能测试。
2、然而，bist测试装置中对于tpg和ora的搭建往往是借助verilog、vhdl等高级硬件描述语言和fpga(field programmable gate array，现场可编程门阵列)芯片厂商自带的编译工具完成。这些编译工具独立构建tpg电路和ora电路，使得tpg电路和ora电路的位置并不固定，且tpg电路和ora电路并没有与dut电路关联，即便针对同一个dut电路，两次生成的tpg电路和ora电路也会相互不同，以及，采用不同的软件工具生成的tpg电路和ora电路的位置也会不同。也就是说，在针对同一dut进行跨器件移植时，移植前后的tpg和ora的电路位置很容易出现偏差，加大了仿真调试的困难程度。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供基于fpga的芯片
2、本申请提供的基于fpga的芯片测试方法和装置，采用如下的技术方案：
3、基于fpga的芯片测试方法，所述方法包括：
4、对待测模块进行位置约束以得到目标待测电路；
5、根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路；
6、将所述测试用例生成电路、所述测试结果分析电路与所述目标待测电路连接以得到整体测试电路；
7、根据所述整体测试电路输出的测试分析结果调试所述测试用例生成电路和所述测试结果分析电路，直至所述测试分析结果满足预设的调试通过条件。
8、通过采用上述技术方案，首先对待测模块进行位置约束得到目标待测电路，实现硬件平台的位置固化。随后，根据待测模块构建出对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，在构建测试用例生成电路和测试结果分析电路时充分考虑到了待测模块对应的目标待测电路的位置，保证目标待测电路与测试用例生成电路、测试结果分析电路之间的关联性。接着，在确定目标待测电路、测试用例生成电路和测试结果分析电路后，将目标待测电路、测试用例生成电路和测试结果分析电路进行连接得到整体测试电路。采用测试用例生成电路对目标待测电路进行测试用例输入，测试结果分析电路对目标待测电路的输出进行分析得到测试分析结果。根据整体测试电路输出的测试分析结果来对测试用例生成电路和测试结果分析电路进行调试，实现硬件条件下的芯片测试调试。
9、可选的，所述方法还包括：
10、所述测试分析结果满足预设的调试通过条件，将所述整体测试电路的配置文件存入配置库，以供符合预设要求的其他所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，所述预设要求与所述待测模块相关联。
11、通过采用上述技术方案，在所述测试分析结果满足预设的调试通过条件时，整体测试电路的配置文件存入配置库，以便于满足预设要求的其他待测模块进行芯片测试时，直接调用该配置文件以便于迅速生成测试用例生成电路和测试结果分析电路，实现检测bist测试结果“ip”化，以便于在开发工程文件时直接进行调用，提高整体开发和后续调试效率。
12、可选的，所述根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
13、获取所述待测模块对应的测试用例生成模块和测试结果分析模块；
14、通过映射底层电路的方式根据所述待测模块搭建测试用例生成电路和测试结果分析电路。
15、通过采用上述技术方案，将原本交由编译工具进行综合的测试用例生成模块和测试结果分析模块，通过直接映射底层电路的方法被确定了对应测试用例生成电路和测试结果分析电路的位置。本方案设置脱离了工具综合所决定的范畴，所述待测模块的目标待测电路、测试用例生成电路和测试结果分析电路均在硬件平台上确认，省去了工具综合和时序分析收敛的环节和时间。
16、可选的，所述根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
17、在所述待测模块满足所述预设要求时，读取所述配置库中所述预设要求对应的所述配置文件；
18、根据所述配置文件搭建测试用例生成电路和测试结果分析电路。
19、通过采用上述技术方案，在对待测模块b0进行芯片测试时，测试分析结果满足预设的调试通过条件，将整体测试电路的配置文件c0存入配置库，并设置调用配置文件c0的待测模块需要满足待测模块b0所对应的预设要求。
20、在符合预设要求的待测模块b1构建测试用例生成电路和测试结果分析电路时，能够读取配置库中的配置文件c0，并根据该配置文件c0直接搭建测试用例生成电路和测试结果分析电路。实现在开发工程文件时面对相同特性的待测模块(满足预设要求)直接调用已经调试通过的待测模块所对应的配置文件，以提高整体开发效率和后续调试效率。
21、可选的，所述将所述测试用例生成电路、所述测试结果分析电路与所述目标待测电路连接以得到整体测试电路，包括：
22、所述测试用例生成电路的输出端连接所述目标待测电路的输入端，所述目标待测电路的输出端连接所述测试结果分析电路的输入端，得到所述整体测试电路；所述测试用例生成电路用于生成测试用例激励，所述目标待测电路用于根据所述测试用例激励生成测试数据，所述测试结果分析电路用于根据所述测试数据生成测试分析结果。
23、通过采用上述技术方案，目标待测电路根据来自测试用例生成电路的测试用例，生成测试数据；测试结果分析电路根据测试数据输出测试分析结果。随后根据测试分析结果对测试用例生成电路和测试结果分析电路进行调试，直至所述测试结果满足预设的调试通过条件。
24、可选的，所述测试电路的配置文件包括所述整体测试电路的电子元件、电子元件的位置以及各个电子元件之间的引脚连接关系。
25、可选的，所述符合预设要求的其他所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
26、在当前待测模块符合目标待测模块对应预设要求时，根据目标待测模块的配置文件生成当前待测模块对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路。
27、可选的，在所述测试分析结果满足预设的调试通过条件时，所述整体本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
4.根据权利要求2所述的基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
5.根据权利要求1所述的基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述将所述测试用例生成电路、所述测试结果分析电路与所述目标待测电路连接以得到整体测试电路，包括：
6.根据权利要求2所述的基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述测试电路的配置文件包括所述整体测试电路的电子元件、电子元件的位置以及各个电子元件之间的引脚连接关系。
7.根据权利要求2所述的基于FPGA的芯片测试方法，其特征在于，所述符合预设要求的其他所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
8.根据
9.基于FPGA的芯片测试装置，其特征在于，包括待测指定模块、待测约束模块、测试用例生成模块、测试结果分析模块、测试连接模块和调试模块；
10.根据权利要求9所述的基于FPGA的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括配置库、配置读取模块、配置调用模块；
...【技术特征摘要】
1.基于fpga的芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于fpga的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的基于fpga的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
4.根据权利要求2所述的基于fpga的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路，包括：
5.根据权利要求1所述的基于fpga的芯片测试方法，其特征在于，所述将所述测试用例生成电路、所述测试结果分析电路与所述目标待测电路连接以得到整体测试电路，包括：
6.根据权利要求2所述的基于fpga的芯片测试方法，其特征在于，所述测试电路...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑赫男，袁智皓，陈珊，
申请(专利权)人：上海安路信息科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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