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本发明涉及嵌入式软件测试的领域，提供基于FPGA的芯片测试方法和装置，方法包括，对待测模块进行位置约束以得到目标待测电路；根据待测模块构建对应的测试用例生成电路和测试结果分析电路；将测试用例生成电路、测试结果分析电路与目标待测电路连接以得到...
该专利属于上海安路信息科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海安路信息科技股份有限公司授权不得商用。

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