【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及人工智能，尤其涉及一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法及装置。
技术介绍
1、三维重建技术中非接触式测量方法具有测量速度快、重建点云稠密、精度尚佳等优点，有效克服了以坐标测量机(coordinate measuring machine，cmm)为代表的接触式测量方法对被测物体表面的损坏和测量缓慢、测量点有限的缺点。在众多非接触式测量方法中，主动三维测量技术作为光学测量领域中的常用方法，它采用一定的投射装置主动地向被测物体投射各类点、线或面形式的光信号，有效避免了被动测量如立体视觉等方法利用多个相机所拍摄图像中物体表面对应点特征匹配难的问题，并克服了被测物体表面纹理信息不丰富所导致的重建三维点云信息稀疏的问题等。
2、结构光三维重建技术作为工程中运用最为广泛的主动测量技术之一，具有分辨率高、精度高的优点，在工业检测、逆向工程、文物保护、刑事侦查等领域得到大量应用。但结构光三维重建技术目前还存在一些问题，其中亟待解决的问题之一是如何对表面具有高反光特性或表面反射率变化范围较大的物体进行准确测量。例如，对于...
【技术保护点】
1.一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域所对应的投影仪像素的最佳投射灰度值，包括：
3.根据权利要求2所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像的像素饱和区域信息，包括：
4.根据权利要求3所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像的像素饱和区域信息，还包括：
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【技术特征摘要】
1.一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域所对应的投影仪像素的最佳投射灰度值，包括：
3.根据权利要求2所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像的像素饱和区域信息，包括：
4.根据权利要求3所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像的像素饱和区域信息，还包括：
5.根据权利要求2所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述最佳投影亮度预测模型是通过以下步骤训练得到的：
6.根据权利要求1所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：范俊峰，付一宸，景奉水，马云开，周超，谭民，
申请(专利权)人：中国科学院自动化研究所，
类型：发明
国别省市：
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