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本发明提供一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法及装置。该方法包括：获取第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域所对应的投影仪像素的最佳投射灰度值，并基于第一编码条纹调制图像获取第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域与投影仪投射平面对应区域之...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。

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