一种硅基电容结构制造技术

技术编号:43286370 阅读:95 留言:0更新日期:2024-11-12 16:08
本技术公开一种硅基电容结构,所述硅基电容为深沟槽电容,所述硅基电容结构的绝缘层、m周期堆叠的导电层和介电层、顶导电层位于硅基电容结构的深沟槽内部。所述硅基电容减少了光罩数量,降低了制造成本,同时提升了电容面积利用率,降低了接触通孔的蚀刻负载效应。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电容器,具体涉及一种硅基电容结构


技术介绍

1、受终端市场驱动,集成电路的集成度不断提升,对各种模块和元器件提出小型化需求。电容器是集成电路中应用最广泛的无源器件,可应用于电路中的隔直通交、旁路、滤波、耦合、调谐回路、能量转换与存储等方面。集成电路中常用的电容器有:mos管电容、多晶硅-绝缘体-多晶硅电容、金属-绝缘体-金属电容等。电容器的小型化可以采用集成无源器件(intergrated passive device,ipd)技术实现,也可以通过增加电容器在单位面积上的电容容值来实现。深沟槽电容(deep trench capacitor,dtc)是一种将深沟槽蚀刻到硅衬底中而形成的三维垂直电容器,可提供超高的单位面积上的电容容值。增加电容密度的方法诸如增加沟槽深度、增加导电层和介电层的堆叠层数、降低介电层厚度、选用高介电常数介电材料等。

2、需要指出的是,传统深沟槽电容器的导电层都是采用图案化方法形成导电层台阶,并经由接触通孔导出。当导电层和介电层的堆叠层数增加时,所述方法一方面需要增加光罩以实现导电层台阶的图案化,增加了工艺成本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种硅基电容结构,所述硅基电容为深沟槽电容;其特征在于,所述硅基电容结构的绝缘层、m周期堆叠的导电层和介电层、顶导电层位于硅基电容结构的深沟槽内部。

2.根据权利要求1所述的一种硅基电容结构,其特征在于,所述硅基电容结构的绝缘层、m周期堆叠的导电层和介电层、顶导电层的顶部为凹凸结构,所述硅基电容结构的导电层、顶导电层的高度低于绝缘层、介电层的高度。

3.根据权利要求2所述的一种硅基电容结构,其特征在于,所述硅基电容结构的绝缘层、介电层的顶部侧壁设置有侧墙,所述侧墙为低压化学气相沉积法形成的ON结构。

4.根据权利要求1所述的一种硅基电容结构,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种硅基电容结构,所述硅基电容为深沟槽电容;其特征在于,所述硅基电容结构的绝缘层、m周期堆叠的导电层和介电层、顶导电层位于硅基电容结构的深沟槽内部。

2.根据权利要求1所述的一种硅基电容结构,其特征在于,所述硅基电容结构的绝缘层、m周期堆叠的导电层和介电层、顶导电层的顶部为凹凸结构,所述硅基电容结构的导电层、顶导电层的高度低于绝缘层、介电层的高度。

3.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:聂祥龙宋一诺曹红霞
申请(专利权)人:上海兆方半导体有限公司
类型:新型
国别省市:

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