【技术实现步骤摘要】
本申请涉及硅粒纯度检测，尤其是涉及一种硅粒纯度过渡检测仓。
技术介绍
1、硅粒纯度检测仓指的是用于进行硅粒纯度检测的设备或环境区域。在硅粒纯度检测中，通常关注的是硅粒中的杂质含量、晶体结构、晶格缺陷等指标，以确保硅粒的纯度达到特定要求，根据硅粒的特性和检测需求，选择合适的检测方法，如电感耦合等离子体质谱法、原子吸收光谱法、傅里叶变换红外光谱等，确定检测所需遵循的标准或规范，以确保检测结果的准确性和可比性。
2、经检索，公开号：cn217305089u公布了一种半导体用硅部件加工用纯度检测装置，通过设置固定壳、第二弹簧和限位块的配合使用，当工作人员需要纯度检测装置自动固定硅部件时，工作人员将硅部件放入固定壳的内腔中，随后硅部件带动限位块向两边移动，限位块移动的同时对第二弹簧进行挤压，当硅部件放置好之后，第二弹簧带动限位块对硅部件进行加紧，即可完成对硅部件进行固定，通过设置支架和滚轮的配合使用，使纯度检测装置可以进行移动，同时滚轮也起到了一定的支撑作用。
3、针对上述中的相关技术，专利技术人认为存在以下有待改进的技术
本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种硅粒纯度过渡检测仓，其特征在于，包括溶解式纯度检测机构(1)，所述溶解式纯度检测机构(1)包括存料罐(11)、滤水管道(12)、输送箱(13)、排风扇(14)、氢氟酸蓄罐(15)、加热底座(16)和收集组件(17)，所述存料罐(11)的下料口与所述滤水管道(12)的顶部进水端相卡接，所述滤水管道(12)的外侧贯穿所述输送箱(13)的顶部内侧与所述输送箱(13)的内表面紧密贴合，所述排风扇(14)等间距排布在所述输送箱(13)的外侧，所述氢氟酸蓄罐(15)卡接在所述加热底座(16)的顶部，所述收集组件(17)螺纹连接在所述氢氟酸蓄罐(15)的排气端外侧，所述存料...
【技术特征摘要】
1.一种硅粒纯度过渡检测仓，其特征在于，包括溶解式纯度检测机构(1)，所述溶解式纯度检测机构(1)包括存料罐(11)、滤水管道(12)、输送箱(13)、排风扇(14)、氢氟酸蓄罐(15)、加热底座(16)和收集组件(17)，所述存料罐(11)的下料口与所述滤水管道(12)的顶部进水端相卡接，所述滤水管道(12)的外侧贯穿所述输送箱(13)的顶部内侧与所述输送箱(13)的内表面紧密贴合，所述排风扇(14)等间距排布在所述输送箱(13)的外侧，所述氢氟酸蓄罐(15)卡接在所述加热底座(16)的顶部，所述收集组件(17)螺纹连接在所述氢氟酸蓄罐(15)的排气端外侧，所述存料罐(11)的内部还设置有清洁组件(2)；
2.根据权利要求1所述的硅粒纯度过渡检测仓，其特征在于，所述清洁组件(2)包括步进电机(21)、耐腐蚀轴(22)和搅拌架(23)，所述步进电机(21)安装在所述存料罐(11)的顶部，所述耐腐蚀轴(22)的顶部通过联轴器与所述步进电机(21)的电机轴固定连接，所述搅拌架(23)焊接在所述耐腐蚀轴(22)的外侧。
3.根据权利要求2所述的硅粒纯度过渡检测仓，其特征在于，所述存料罐(11)的顶部还设置有进水管(3)和水泵(4)，所述水泵(4)的输出端与所述进水管(3)的一侧固定连接，所述进水管(3)贯穿所述存料罐(11)的顶部内壁与所述存料罐(11)的内表面紧密贴合。
4.根据权利要求1所述的硅粒纯度过渡检测仓，其特征在于，所述滤水管道(12)上还设置有滴水管(5)和筛网滤筒(6)，所述筛网滤筒(6)安装在所述滤水管道(12)的内部，所述滴水管(5)等间距排布在所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：仲银，范艳华，陈龙，
申请(专利权)人：湖北麦格森特新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。