【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体产品外观检查流程管理，尤其涉及一种产品外观检查流程管理系统。
技术介绍
1、产品的外观检查是半导体封装和测试的常规流程。产品在生产流转过程中人为操作不当、或是材料本身有缺陷或低质量等原因会造成产品外观有缺陷。因此在生产过程中，需要对产品进行外观检查，通常会检查产品表面是否存在划伤、坑洼、变形、基板漏铜、基板断裂、影响打标的识别等缺陷。
2、目前企业采用纸质随工单的方式记录产品外观检查流程的结果，采用excel方式定义产品外观缺陷判断标准的作业指导书，这种方式至少存在以下缺点：
3、(1)产品外观检查流程执行力度不高。生产人员、质检人员和制程人员都需要经过培训和考核才能检查特定的产品，目前无法管控作业人员(即生产人员、质检人员和制程人员)对未经授权的产品进行外观检查的风险。另外生产人员在实际执行过程是否按照流程操作很难确保，例如当生产人员无法判断产品是否存在外观缺陷，需要其他部门的质检、制程人员验证时，是否会按流程通知，或是跳过流程将产品流入到下一站等，目前没有系统跟踪记录这些流程的执行，增加了
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种产品外观检查流程管理系统，其特征在于，包括Web层、业务逻辑层、数据持久层和数据库存储层，其中：
2.根据权利要求1所述的产品外观检查流程管理系统，其特征在于，所述Web层与所述作业人员进行数据交互包括以下至少一项：
3.根据权利要求1所述的产品外观检查流程管理系统，其特征在于，所述业务逻辑层管理所述作业人员的人员角色、系统登录权限、系统功能模块使用权限、授权产品类型、及上传/更新作业指导书权限，包括：
4.根据权利要求1所述的产品外观检查流程管理系统，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的产品外观检查流...
【技术特征摘要】
1.一种产品外观检查流程管理系统，其特征在于，包括web层、业务逻辑层、数据持久层和数据库存储层，其中：
2.根据权利要求1所述的产品外观检查流程管理系统，其特征在于，所述web层与所述作业人员进行数据交互包括以下至少一项：
3.根据权利要求1所述的产品外观检查流程管理系统，其特征在于，所述业务逻辑层管理所述作业人员的人员角色、系统登录权限、系统功能模块使用权限、授权产品类型、及上传/更新作业指导书权限，包括：
4.根据权利要求1所述的产品外观检查流程管理系统，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的产品外观检查流程管理系统，其特征在于，所述业务逻辑层实现按钮级别的产品外观检查流程管理，包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐冬兰，朱军，郭红伟，
申请(专利权)人：苏州通富超威半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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