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本发明提供一种产品外观检查流程管理系统，涉及半导体产品外观检查流程管理技术领域，系统包括Web层、业务逻辑层、数据持久层和数据库存储层。其中Web层用于面向作业人员，与作业人员进行数据交互；业务逻辑层用于管理作业人员的人员角色、系统登录权限...
该专利属于苏州通富超威半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州通富超威半导体有限公司授权不得商用。

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