光学记录介质及其制造方法技术

本发明专利技术提供光学记录介质及其制造方法。光学记录介质包括：基板；信息信号层，设置在基板上；以及保护层，设置在信息信号层上。该信息信号层设置有反射层、设置在该反射层上的记录层以及依次层叠在该记录层上的第一、第二和第三介电层。第一、第二和第三介电层的折射系数在彼此相邻的介电层之间彼此不同。在第一、第二和第三介电层中，具有最高折射系数的介电层包含选自氧化钛、氧化铌以及硫化锌和氧化硅的混合物构成的组中的至少一种作为主成分。具有最高折射系数的介电层在４０５ｎｍ波长处具有２．３以上的折射系数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。具体地，本专利技术涉及设置有多个信息信号层的光学记录介质。
技术介绍
近年来，DVD-ROM(数字通用只读存储器)和记录型DVD等中的版权保护已广为人 知。其中一项已知的技术是，在未记录的光盘状态下将称为介质ID的为介质所固有的二进 制信息(binary information)被记录在最内边缘侧区域(群刻区域(BCA :Burst Cutting Area))，并且采用该介质ID加密内容数据。 同样，在诸如蓝光光盘(注册商标BD)等的高密度光盘中，已经提出了这样的技 术，其中作为二进制信息的类似编码的标记(下文称为BCA标记)被记录在BCA中(见 JP-T-2005-518055)。 JP-T-2005-518055揭示了记录BCA标记并利用相变记录层的结晶态和非晶态。同 样，JP-T-2005-518055揭示了凹槽或凹坑以相邻区域轨道节距的五倍或更多倍的轨道节距 形成在BCA中。此外，JP-T-2005-518055揭示了 BCA标记形成在径向方向上以横过多个轨 道。 BCA可以以下面的方式形成。 例如，在制造阶段，在初始化之前且正好在制造记录层之后的状态下本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学记录介质，包括：基板；信息信号层，设置在所述基板上；以及保护层，设置在所述信息信号层上，其中所述信息信号层设置有：反射层，记录层，设置在所述反射层上，以及第一介电层、第二介电层和第三介电层，依次层叠在所述记录层上，所述第一介电层、所述第二介电层和所述第三介电层的折射系数在彼此相邻的介电层之间彼此不同，在所述第一介电层、所述第二介电层和所述第三介电层中，具有最高折射系数的所述介电层包含选自由硫化锌和氧化硅的混合物、氧化钛、氧化铌构成的组中的至少一种作为主成分，并且所述具有最高折射系数的介电层在４０５ｎｍ波长处具有２．３以上的折射系数。

【技术特征摘要】
JP 2008-12-4 310318/08一种光学记录介质，包括基板；信息信号层，设置在所述基板上；以及保护层，设置在所述信息信号层上，其中所述信息信号层设置有反射层，记录层，设置在所述反射层上，以及第一介电层、第二介电层和第三介电层，依次层叠在所述记录层上，所述第一介电层、所述第二介电层和所述第三介电层的折射系数在彼此相邻的介电层之间彼此不同，在所述第一介电层、所述第二介电层和所述第三介电层中，具有最高折射系数的所述介电层包含选自由硫化锌和氧化硅的混合物、氧化钛、氧化铌构成的组中的至少一种作为主成分，并且所述具有最高折射系数的介电层在405nm波长处具有2.3以上的折射系数。2. 根据权利要求l所述的光学记录介质，其中当所述第一介电层、所述第二介电层和所述第三介电层的折射系数分别定义为nl、 n2 和n3时，所述折射系数nl、n2和n3满足关系式nl > n2 > n3。3. 根据权利要求l所述的光学记录介质，其中当所述第一介电层、所述第二介电层和所述第三介电层的折射系数分别定义为nl、 n2 和n3时，所述折射系数nl、 n2和n3满足关系式n2 > nl和n2 > n3。4. 根据权利要求l所述的光学记录介质，其中所述第一介电层、所述第二介电层和所述第三介电层的层叠膜是通过层叠低折射系数 层、中折射系数层和高折射系数层中的至少两种层的三层所获得的层叠膜； 所述低折射系数层的折射系数在405nm波长处低于2. 30 ; 所述中折射系数层的折射系数在405nm波长处为2. 30以上且小于2. 55 ;并且 所述高折射系数层的折射系数在405nm波长处为2. 55以上。5. 根据权利要求l所述的光学记录介质，其中所述硫化锌的含量的原子百分比为70%以上而不大于90%，并且所述氧化硅的含量 的原子百分比为10%以上而不大于30%。6. 根据权利要求l所述的光学记录介质...

【专利技术属性】
技术研发人员：猪狩孝洋，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]