一种基于微显示器件的缺陷分类方法、装置和存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种基于微显示器件的缺陷分类方法、装置和存储介质，用于提高微显示器件的缺陷检测效率。本申请包括：采集微显示器件的待检测图像；实时监控CPU中央处理器的运行状态和GPU图形处理器的运行状态；将待检测图像和模板信息传送到检测线程中；使用定位模块结合模板信息定位待检测图像上的最小检测单元区域；对待检测图像的最小检测单元区域进行缺陷首检，生成首检分析结果；根据首检分析结果从待检测图像中筛选出待复检图像；当GPU运行状态达到第二预设条件时，将待复检图像传送到GPU的复检模块中；通过复检模块对待复检图像进行复检，生成复检分析结果；根据首检分析结果和复检分析结果进行微显示器件的缺陷分类汇总。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及微显示器件检测领域，尤其涉及一种基于微显示器件的缺陷分类方法、装置和存储介质。

技术介绍

1、随着工业和互联网技术的日新月异的发展，行业对工业产品质量的要求越来越精细化、标准化，就显示面板行业而言，产品质量好坏直接影响其产品竞争力。

2、随着微型投影机和可穿戴设备逐渐进入到现实生产与生活中，微显示器件的应用前景越来越广泛。尤其是微显示器件在虚拟现实（vr）、增强现实（ar）、微投影仪等领域中的应用，使得新一代的主动发光器件极具应用前景。

3、微显示器件可视为微小化的led，具有自发光、低耗电、像素可独立控制及超高分辨率等优势。在此基础上，结合纳米布线技术，可以将微显示器件制成柔性器件，从而应用到可穿戴设备上。使得微显示器件的研发方向越来越多，但随之而来的，对微显示器件的需求与要求也在逐渐提高。

4、现如今，微显示器件在制备工艺上仍然存在一定的技术难题，例如在微显示器件的表面和内部产生结构缺陷时，往往会严重影响整个设备的性能和使用寿命。现有的对微显示器件的缺陷检测方法，往往是针对微显示器件的视觉外观检测，这本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于微显示器件的缺陷分类方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的缺陷分类方法，其特征在于，对所述待检测图像的所述最小检测单元区域进行缺陷首检，生成首检分析结果，包括：

3.根据权利要求1所述的缺陷分类方法，其特征在于，通过所述复检模块对所述待复检图像进行复检，生成复检分析结果，包括：

4.根据权利要求1至3中任一项所述的缺陷分类方法，其特征在于，使用定位模块结合所述模板信息定位所述待检测图像上的最小检测单元区域，包括：

5.根据权利要求1所述的缺陷分类方法，其特征在于，当CPU运行状态达到第一预设条件时，将所述待检测图像和...

【技术特征摘要】

1.一种基于微显示器件的缺陷分类方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的缺陷分类方法，其特征在于，对所述待检测图像的所述最小检测单元区域进行缺陷首检，生成首检分析结果，包括：

3.根据权利要求1所述的缺陷分类方法，其特征在于，通过所述复检模块对所述待复检图像进行复检，生成复检分析结果，包括：

4.根据权利要求1至3中任一项所述的缺陷分类方法，其特征在于，使用定位模块结合所述模板信息定位所述待检测图像上的最小检测单元区域，包括：

5.根据权利要求1所述的缺陷分类方法，其特征在于，当cpu运行状态达到第一预设条件时，将所述待检测图像和模板信息传送到检测线程中，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：张景程，杨硕，张滨，
申请(专利权)人：深圳精智达技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：