【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及显示屏检测领域，尤其涉及一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、显示屏的缺陷检测是进行调整的必要过程，相位偏折术是现有技术中对显示屏进行缺陷检测的手段，传统的相位偏折术（phase deflectometry,pd）在光滑表面微形貌测量中已广泛应用，其核心通过分析光条纹在物体表面反射后的相位变化，计算表面梯度，并进一步重构三维面形信息。在缺陷检测场景下，相位场中局部的突变可揭示出明显的划痕、坑洞等表面瑕疵。
2、但随着显示屏的精密程度逐渐提高，显示屏的结构产生了极大地变化，使得传统的相位偏折术在显示屏缺陷检测上存在困难。例如：柔性屏、折叠屏、拼接屏等显示屏的出现，极大程度的增加了显示屏的应用领域，也增加了缺陷类型和检测难度，即针对整体结构改进的显示屏在一些区域容易出现专属缺陷，如：折叠屏在折叠区域产生需要特定方式检测的专属缺陷。除此之外，显示屏还进行了层级之间的改进，例如：新的功能层（微电路层）的加入、新的功能层的厚度降低、层与层之间的连接改进等，进一步增加了显示屏的功能性，同时也...
【技术保护点】
1.一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，在所述获取目标类型的待测显示屏的反射条纹图的步骤之前，所述浅层缺陷检测方法还包括：
3.根据权利要求2所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，使用所述第二特征融合图对初始浅层缺陷识别模型进行训练，生成目标浅层缺陷识别模型的步骤包括：
4.根据权利要求1所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，所述获取目标类型的待测显示屏的反射条纹图的步骤包括：
5.根据权利要求4所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，在所述将所述若干张相...
【技术特征摘要】
1.一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，在所述获取目标类型的待测显示屏的反射条纹图的步骤之前，所述浅层缺陷检测方法还包括：
3.根据权利要求2所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，使用所述第二特征融合图对初始浅层缺陷识别模型进行训练，生成目标浅层缺陷识别模型的步骤包括：
4.根据权利要求1所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，所述获取目标类型的待测显示屏的反射条纹图的步骤包括：
5.根据权利要求4所述的浅层缺陷检测方法，其特征在于，在所述将所述若干张相移条纹图像投影到所述待测显示屏上，再通过相机同步采集，生成反射条纹图之前，所述浅层缺陷检测方法还...
【专利技术属性】
技术研发人员：张景程，杨硕，胡亮，
申请(专利权)人：深圳精智达技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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