温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高对浅层缺陷的检测精度。获取待测显示屏的反射条纹图；对反射条纹图进行相位回复，生成第一相位恢复数据；根据第一相位恢复数据计算生成第一相位梯度幅值图；根据第一相位梯度幅值图...
该专利属于深圳精智达技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳精智达技术股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。