【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，具体地讲，涉及一种存储芯片测试座。
技术介绍
1、ic芯片(integrated circuit集成电路)是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的ic芯片(如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”)，存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。所以存储芯片在出厂前要经过严格的检测。
2、芯片测试时，需要使用测试座，例如技术一种存储芯片测试座及测试装置，授权公告号cn217544166u，实现芯片的位置固定，以方便实现测试。
3、目前，还缺少一种设备，方便实现芯片的放置以及取出。
技术实现思路
1、本技术要解决的技术问题是提供一种存储芯片测试座，有利于实现芯片检测时放置、夹持以及取出。
2、本技术采用如下技术方案实现专利技术目的：
3、一种存储芯片测试座，其特征是，包括：测试座，所述测试座底板设置有一组安装槽，所述测试座的顶板设置有一组槽口；一组夹持组件，设置在所述...
【技术保护点】
1.一种存储芯片测试座，其特征是，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征是：所述安装板(11)固定连接双轴电机(12)，所述双轴电机(12)的一个输出轴穿过所述安装板(11)固定连接转盘(9)，所述转盘(9)的边缘处固定连接圆块(19)，所述圆块(19)设置在滑槽(20)内，所述滑槽(20)固定连接所述升降架(8)。
3.根据权利要求2所述的存储芯片测试座，其特征是：所述双轴电机(12)的另一个输出轴固定连接动力锥齿轮(13)，所述安装板(11)轴承连接从动锥齿轮(14)的中心轴，所述从动锥齿轮(14)啮合所述动力锥齿轮(13)...
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片测试座，其特征是，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征是：所述安装板(11)固定连接双轴电机(12)，所述双轴电机(12)的一个输出轴穿过所述安装板(11)固定连接转盘(9)，所述转盘(9)的边缘处固定连接圆块(19)，所述圆块(19)设置在滑槽(20)内，所述滑槽(20)固定连接所述升降架(8)。
3.根据权利要求2所述的存储芯片测试座，其特征是：所述双轴电机(12)的另一个输出轴固定连接动力锥齿轮(13)，所述安装板(11)轴承连接从动锥齿轮(14)的中心轴，所述从动锥齿轮(14)啮合所述动力锥齿轮(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪育铠，洪育铃，
申请(专利权)人：深圳市志忠微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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