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本技术公开了一种存储芯片测试座，其特征是，包括：测试座，所述测试座底板设置有一组安装槽，所述测试座的顶板设置有一组槽口；一组夹持组件，设置在所述测试座内，每个所述夹持组件分别设置在对应的所述安装槽内，每个所述夹持组件分别匹配对应的所述槽口；...
该专利属于深圳市志忠微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市志忠微电子有限公司授权不得商用。

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