一种ＡＤ芯片转换误差检验装置制造方法及图纸

一种ＡＤ芯片转换误差检验装置，其特征是标准信号源连接Ａ／Ｄ采样芯片，Ａ／Ｄ采样芯片连接微处理器，微处理器分别连接显示系统和ＰＣ机。本实用新型专利技术的技术效果是：生产上在ＡＤ采样芯片投入批次使用之前，用批次抽取的方式通过该装置进行误差检验，可以大大提高普通测试仪器的精度和控制系统的准确度；对于设计要求精度在０．１级以上的高精度表则每个芯片都通过本设备的校准，则可以对由于采样零漂所产生的误差进行精确校准。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种误差检验装置，尤其涉及一种AD芯片转换误差检验装置。
技术介绍
AD采样转换芯片是连接模拟电路和数字电路的桥梁，通过采样芯片可以把模拟量 转换为相应的数字量，并通过CPU进行处理后获得数据或做出相应的工作。但由于制作工 艺或精度的原因，基本上所有AD芯片都会出现零漂。若不检测出来则很容易影响到数据采 集的精度，对于高精度的仪表更为明显。
技术实现思路
本技术的目的在于提供了一种AD芯片转换误差检验装置，该装置可以迅速， 方便的检查出各种AD采样芯片和各批次芯片的零点漂移，即在模拟输入量是芯片规定的 数字转换的最低模拟输入量和最高模拟输入量的情况下，检测出数字输出量的偏移大小， 可以为软件算法的校准提供准确数字，提高模拟采样的精度。本技术是这样来实现的，它包括标准信号源、A/D采样芯片、微处理器、显示系 统、PC机，其特征是标准信号源连接A/D采样芯片，A/D采样芯片连接微处理器，微处理器分 别连接显示系统和PC机。本技术的技术效果是生产上在的AD采样芯片在投入批次使用之前，用批次 抽取的方式通过该装置进行误差检验，可以大大提高普通测试仪器的精度和控制系统的准 确度；对于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＡＤ芯片转换误差检验装置，它包括标准信号源、Ａ／Ｄ采样芯片、微处理器、显示系统、ＰＣ机，其特征是标准信号源连接Ａ／Ｄ采样芯片，Ａ／Ｄ采样芯片连接微处理器，微处理器分别连接显示系统和ＰＣ机。

【技术特征摘要】
一种AD芯片转换误差检验装置，它包括标准信号源、A/D采样芯片、微处理器、显示系统、PC机，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟，
申请(专利权)人：泰豪科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：36[中国|江西]