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一种ＡＤ芯片转换误差检验装置，其特征是标准信号源连接Ａ／Ｄ采样芯片，Ａ／Ｄ采样芯片连接微处理器，微处理器分别连接显示系统和ＰＣ机。本实用新型的技术效果是：生产上在ＡＤ采样芯片投入批次使用之前，用批次抽取的方式通过该装置进行误差检验，可以大大...
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