【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制造,尤其涉及一种传输腔系统、传输系统及传输腔系统的控制方法。
技术介绍
1、为提高衬底处理速度,常采用集成有前端传输模块、装载腔室(load lock,ll)、传输腔室(wafer handling chamber,whc)和处理室(processing chamber)的传输系统。
2、衬底(substrate)通过所述前端传输模块被传送至所述装载腔室,而后被传输至所述传输腔室;随后,位于所述传输腔室中的机械手将所述衬底传输至所述处理室,进行外延或其他处理;处理完毕后,位于所述传输腔室中的机械手将衬底传输至所述装载腔室,继而被传输至所述前端传输模块。
3、专利技术人注意到:在衬底处理过程中(如在外延反应中),所述处理室内以及所述衬底的温度都比较高(如在外延反应中,衬底的表面温度接近700℃)。当处理后的衬底从所述处理室转移至所述传输室以及所述装载室时,所述衬底表面的温度仍非常高,衬底周围空气中的水分极易与衬底上的薄膜发生反应,导致衬底表面的薄膜质量降低。
技术实
...【技术保护点】
1.一种传输腔系统,用于将衬底在装载腔室和工艺腔室之间进行转移,其特征在于,包括:传输腔室、冷却单元和机械手;
2.根据权利要求1所述的传输腔系统,其特征在于,所述传输腔室内设有避让空间,
3.根据权利要求2所述的传输腔系统,其特征在于,所述最短距离D位于所述机械手的旋转中心和所述冷却单元的中心之间。
4.根据权利要求2所述的传输腔系统,其特征在于,
5.根据权利要求2所述的传输腔系统,其特征在于,所述最短距离D为8-12mm。
6.根据权利要求4所述的传输腔系统,其特征在于,所述冷却单元安装于所述抬升壁部的
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【技术特征摘要】
1.一种传输腔系统,用于将衬底在装载腔室和工艺腔室之间进行转移,其特征在于,包括:传输腔室、冷却单元和机械手;
2.根据权利要求1所述的传输腔系统,其特征在于,所述传输腔室内设有避让空间,
3.根据权利要求2所述的传输腔系统,其特征在于,所述最短距离d位于所述机械手的旋转中心和所述冷却单元的中心之间。
4.根据权利要求2所述的传输腔系统,其特征在于,
5.根据权利要求2所述的传输腔系统,其特征在于,所述最短距离d为8-12mm。
6.根据权利要求4所述的传输腔系统,其特征在于,所述冷却单元安装于所述抬升壁部的上表面。
7.根据权利要求2所述的传输腔系统,其特征在于,所述机械手向所述装载腔室伸长时,所述机械手伸出部分的下表面与所述冷却单元的顶端面间距为8-12mm。
8.根据权利要求6所述的传输腔系统,其特征在于,所述冷却单元包括冷却台,所述冷却...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚丽英,林兴,罗际蔚,
申请(专利权)人:研微江苏半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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