电容式触控装置及其控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电容式触控装置及其控制方法，包括一触控面板及多个串接的集成电路用以扫描该触控面板，该触控面板具有多条感应线，该多个串接的集成电路中的第一集成电路对该多条感应线中的第Ｎ条感应线充放电产生一第一信号，该多个串接的集成电路中的第二集成电路对该多条感应线中的第Ｎ＋１条感应线充放电产生一第二信号，该第一集成电路将该第一信号传送给该第二集成电路，使该第二集成电路可以根据该第一及第二信号决定该第Ｎ条感应线的感应量，进而解决边界问题。此外，该多个串接的集成电路以接力的方式将所有集成电路的扫描结果传送至最后一颗集成电路进行运算，因而增加取像速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关一种触控装置，特别是有关于一种电容式触控装置及控制 方法。
技术介绍
在传统应用上，大尺寸电容式触控面板皆使用表面电容式(surface capacitive)感测技术，但表面电容式感测技术是利用流向触控面板各端点的一 组电流不同来判别手指的位置，因此当触碰触控面板的手指数为二指以上时， 回报电流组数仍为一组，故仅能辨别一组绝对坐标位置，例如在二维矩阵时 仅能回报一组X,Y参数，因而无法达到多指触控的功能。所有触点可定位(All Points Addressable; APA)型阵列电容式感测技术虽然 可以达到多指触控的功能，但是其需要对每个点感测器(Point Sensor)进行充放 电的动作，以矩阵形状的触控面板来说，当X轴及Y轴的感应线(trace)增加 时，APA型阵列电容式的像素数目将急剧增加，因而造成取像速度(framerate) 下降，故不适用于大尺寸触控面板的应用。另一种轴交错(Axis Intersect; AI)型阵列电容式感测技术也同样能达到多 指触控的功能。图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测 技术，其包括一小尺寸触控面板10以及一 AI型阵列电容式触控IC12扫描触 控面板10，以一最大可支援扫描22条感应线的AI型阵列电容式触控IC12 为例来说，虽然应用在X轴及Y轴各有10条感应线TRX1-TRX10及 TRY1 TRY10的小尺寸触控面板10时取像速度还不错，但是若要将AI型阵 列电容式触控IC12应用于X轴及Y轴各有40条感应线TRX1 TRX40及TRY1 TRY40的大尺寸触控面板14时，如图2所示，则必须增加AI型阵列 电容式触控IC12可扫描的总感应线数量，然而，触控IC12每次对电容充放 电所花费的时间占整体触控面板应用上的取像速度的比例非常大，也就是说 取像速度问题主要由IC12每个帧(frame)对电容充放电所决定，故以增加可扫 描感应线数的方法应用于大尺寸触控面板14将会有一非常大的缺点，就是整 体应用上的取像速度将会严重下降，进而影响应用端的效能。
技术实现思路
本专利技术的目的之一，在于提出一种决定边界问题的电容式触控装置及其 控制方法。本专利技术的目旳之一，在于提出一种增加取像速度的电容式触控装置及其 控制方法。根据本专利技术， 一种包括一触控面板以及多 个串接的集成电路，该触控面板具有多条感应线，该多个串接的集成电路中 的第一集成电路对该多条感应线中的第N条感应线充放电产生一第一信号， 该多个串接的集成电路中的第二集成电路对该多条感应线中的第N+l条感应 线充放电产生一第二信号，该第一集成电路将该第一信号传送给该第二集成 电路，使该第二集成电路可以根据该第一及第二信号决定该第N条感应线的 感应量，进而解决边界问题。此外，该多个串接的集成电路皆是独立运作，当该第一集成电路扫描至 其所负责的最后一条感应线，即该第N条感应线，该第二集成电路开始扫描 其所负责的第一条感应线，即该第N+1条感应线，该第一集成电路将其扫描 结果传送给该第二集成电路，当该第二集成电路扫描至其所负责的最后一条 感应线时，在该第二集成电路之后的第三集成电路将开始扫描其所负责的第 一条感应线，该第二集成电路将把其与该第一集成电路的扫描结果全部传送 给该第三集成电路，以此接力的方式将所有集成电路的扫描结果传送至最后一颗集成电路进行运算，每一颗集成电路在扫完其所负责的最后一条感应线 时，将再次从其所负责的第一条感应线开始扫，因此，除了第一次扫描时间 需要较长外，之后只需要一颗集成电路的扫描时间便可以扫完整个触控面板， 因而增加取像速度。附图说明图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术； 图2显示传统应用在大尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术； 图3显示一种使用二颗以上AI型阵列电容式触控IC扫描触控面板的电 容式触控装置；图4显示图3的局部放大图； 图5显示本专利技术的第一实施例； 图6显示本专利技术的第二实施例；以及图7显示本专利技术的第三实施例。附图标号10 触控面板12 触控IC14 触控面板20 电容式触控装置22 触控面板24 触控IC26 触控IC30 电容式触控装置32 触控面板34 触控IC36 触控IC40电容式触控装置42触控IC44触控IC46触控IC48触控IC50电容式触控装置52触控面板54触控IC56触控IC58触控IC60触控IC具体实施例方式图3显示一种使用二颗以上AI型阵列电容式触控IC扫描触控面板的电 容式触控装置20。图4显示图3的局部放大图。在电容式触控装置20中，阵 列电容式触控IC24负责扫描触控面板22中的感应线TRX1至TRXIO，阵列 电容式触控IC26负责扫描触控面板22中的感应线TRX11至TRX20。由于电 容式触控装置20可以使用多颗AI型阵列电容式触控IC同时扫描触控面板， 因此应用在大尺寸面板时，不但具有多指触控功能，也具有良好的取像速度。 在小尺寸触控面板的电容式触控IC的检测方法中， 一般是同时选取两条感应 线进行充放电以取得较佳的感应量。若将上述的方法应用于电容式触控装置 20的话，以触控IC24为例，在扫描感应线TRX1时，触控IC24将对感应线 TRX7及TRX8充放电以取得感应线TRX7及TRX8的电压或电流信号，并藉 以取得感应线TRX7的感应量，如图4所示。然而，当触控IC24扫描至其所 负责的最后一条感应线TRX10时，由于触控IC24并未连接感应线TRXll， 因此触控IC24无法对感应线TRX11充放电以取得电压或电流信号，因此在边界处的感应线TRX10的感应量只能用感应线TRX10的电压或电流信号来 判断，因而使感应线TRXIO的感应量有不正确或偏小的情形。图5显示本专利技术的第一实施例，电容式触控装置30包括触控面板32以 及触控IC34及36，阵列电容式触控IC34负责扫描触控面板32的感应线TRXl 至TRXIO，阵列电容式触控IC36负责扫描触控面板32的感应线TRXll至 TRX20,触控IC34及36皆为独立运作，当触控IC34扫描至其所负责的最后 一条感应线TRXIO时，触控IC36将开始扫描其所负责的第一条感应线TRX 11，同时，触控IC34将对感应线TRXIO充放电产生的电压或电流信号pp传 送给触控IC36，进而解决边界问题，触控IC36根据来自触控IC34的信号pp 以及对感应线TRXll充放电而得到的电压或电流信号决定感应线TRXIO的 感应量，同时，触控IC34也将其扫描结果经由交换及数据信号传送至触控IC36 进行运算，其中触控IC34的扫描结果包含感应线TRXl至TRX9的感应量， 当然，当触控IC34扫完最后一条感应线TRXIO时，将再从第一条感应线TRXl 开始扫描。在其他实施例中，也可以由触控IC36将对感应线TRXll充放电 而得的电压或电流信号传送给触控IC34，以供触控IC34决定感应线TRXIO 的感应量。图5所示的电容式触控装置20可以推广至多个串接的触控IC。图6显示 本专利技术的第二个实施例，电容式触控装置40包括阵列电容式触控IC42、 44、 46及48用以扫描触控面板(图中未示)上同一轴的扫描线，其中触控IC本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容式触控装置，其特征在于，所述电容式触控装置包括：　一触控面板，具有多条感应线；　一第一集成电路，对所述多条感应线中第Ｎ条感应线充放电产生一第一信号；以及　一第二集成电路，对所述多条感应线中第Ｎ＋１条感应线充放电产生 一第二信号；　其中，所述第一集成电路将所述第一信号传送至所述第二集成电路，所述第二集成电路根据所述第一及第二信号得到所述第Ｎ条感应线的感应量。

【技术特征摘要】
1.一种电容式触控装置，其特征在于，所述电容式触控装置包括一触控面板，具有多条感应线；一第一集成电路，对所述多条感应线中第N条感应线充放电产生一第一信号；以及一第二集成电路，对所述多条感应线中第N+1条感应线充放电产生一第二信号；其中，所述第一集成电路将所述第一信号传送至所述第二集成电路，所述第二集成电路根据所述第一及第二信号得到所述第N条感应线的感应量。2. —种电容式触控装置，其特征在于，所述电容式触控装置包括 一触控面板；多个串接的集成电路，用以扫描所述触控面板，每一所述集成电路将其 扫描后得到的扫描结果以及来自前一颗集成电路的扫描结果传送给后一颗集 成电路。3. 如权利要求2所述的电容式触控装置，其特征在于，所述多个串接的 集成电路的扫描结果在所述多个串接的集成电路中的最后一颗集成电路进行 运算。4. 一种电容式触控装置的控制方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄荣寿，杨胜超，
申请(专利权)人：义隆电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]