电容式触控装置制造方法及图纸

一种电容式触控装置，该装置包括一大尺寸的触控面板、至少一第一集成电路及一第二集成电路，其中该至少一第一集成电路扫描该触控面板，而该第二集成电路接收来自该至少一第一集成电路的扫描数据，并进行整体最后的运算，该至少一第一集成电路用以传送扫描数据的接脚连接在一起后连接至该第二集成电路以节省该第二集成电路的接脚使用量，进而降低电路的复杂度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关一种电容式触控装置，特别是关于一种降低电路复杂度的 电容式触控装置。
技术介绍
在传统应用上，大尺寸电容式触控荧屏皆使用表面电容式(surface capacitive)感测技术，但表面电容式感测技术是利用流向银幕各端点的一组电 流不同来判别手指的位置，因此当触碰触控面板的手指数为二指以上时，回 报电流组数仍为一组，故仅能辨别一组绝对座标位置，例如在二维矩阵时仅 能回报一组X，Y参数，因而无法达到多指触控的功能。所有触点可定位(All Points Addressable; APA)型阵列电容式感测技术虽 然可以达到多指触控的功能，但是其需要对每个点传感器(Point Sensor)进行充 放电的动作，以矩阵形状的触控面板来说，当X轴及Y轴的感应线(trace)增 加时，APA型阵列电容式的像素数目将急剧增加，因而造成取像速度(frame rate)下降，故不适用于大尺寸触控面板的应用。另一种轴交错(Axis Intersect; AI)型阵列电容式感测技术也同样能达到多 指触控的功能。图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测 技术，其包括一小尺寸触控面板10以及一 AI型阵列电容式触控集成电路(IC) 12扫描触控面板10。以一最大可支援扫描22条感应线的AI型阵列电容式触 控IC 12为例来说，虽然应用在X轴及Y轴各有10条感应线TRX1 TRX10 及TRY1-TRY10的小尺寸触控面板10时取像速度还不错，但是若要将AI型 阵列电容式触控IC 12应用于X轴及Y轴各有40条感应线TRX1-TRX40及 TRY1-TRY40的大尺寸触控面板14时，如图2所示，则必须增加AI型阵列电容式触控IC12可扫描的总感应线数量，然而，触控IC12每次对电容充放 电所花费的时间占整体触控面板应用上的取像速度的比例非常大，也就是说 取像速度问题主要由IC 12每个框(frame)对电容充放电所决定，故以增加可扫 描感应线数的方法应用于大尺寸触控面板14将会有一非常大的缺点，就是整 体应用上的取像速度将会严重下降，进而影响应用端的效能。
技术实现思路
本专利技术的目的在于， 一种应用在大尺寸触控面板、具有多指触控功能、 良好取像速度以及可以降低电路复杂度的电容式触控装置。根据本专利技术， 一种电容式触控装置包括一大尺寸的触控面板、多个第一 集成电路以及一第二集成电路。其中该多个第一集成电路主要负责扫描该触 控面板，若有需要，该多个第一集成电路也可以加入部分运算于其中，该第 二集成电路接收来自该多个第一集成电路的扫描数据并进行整体最后的运 算。此外，该第二集成电路也可以参与扫描工作，该多个第一集成电路各自 具有至少一接脚用以传送扫描数据，每一该第一集成电路的该至少一接脚连 接在一起后连接至该第二集成电路以节省该第二集成电路的接脚使用量，进 而降低电路的复杂度。附图说明图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术； 图2显示以传统AI型阵列电容式感测IC技术，应用在大尺寸触控面板 的方式；图3显示使用二颗以上阵列电容式触控IC的电容式触控装置； 图4显示本专利技术的第一实施例； 图5显示本专利技术的第二实施例； 图6显示本专利技术的第三实施例；以及 图7显示本专利技术的第四实施例。附图标号10触控面板12触控IC14触控面板20电容式触322触控面板24触控IC26触控IC28触控IC30触控IC32触控IC34接脚36接脚38接脚40接脚50电容式触控装置52触控IC54触控IC56触控IC58触控IC60触控IC70电容式触控装置72触控IC74触控IC76触控IC78触控IC80触控IC82触控IC84触控IC卯电容式触控装置100电容式触具体实施例方式图3显示使用二颗以上阵列电容式触控IC的电容式触控装置20，其中四 颗AI型阵列电容式触控IC24、 26、 28及30作为副触控IC用以扫描大尺寸 的触控面板22，假设触控面板22具有80条感应线TR1 TR80，副触控IC 24、 26、 28及30各负责扫描20条感应线以提高取像速度，主触控IC 32接收来 自副触控IC24、 26、 28及30的扫描数据并进行最后整体运算，之后主触控 IC 32再针对所需要的应用进行后续的动作，如果有需要主触控IC 32也可以 参与扫描工作，如虚线所示，而副触控IC24、 26、 28及30也可以加入部分 运算于其中。为了避免各副触控IC 24、 26、 28及30的数据互相影响，主触控IC32使用四只接脚34、 36、 38及40分别接收来自副触控IC24、 26、 28 及30的数据，换言之，每增加一颗副触控IC，主触控IC32就要增加一只接 脚，因此随着副触控IC的增加，主触控IC 32的接脚也必须增加，这将导致 电路越来越复杂。图4显示本专利技术的第一实施例。在电容式触控装置50中，使用四颗AI 型阵列电容式触控IC 52、 54、 56及58作为副触控IC用以扫描触控面板(图 中未示)，并以序列端口(serial port)方式传输序列数据(serial data)给主触控IC 60，每一颗副触控IC 52、 54、 56及58各包括两只接脚CLKS及SDAS，所 有副触控IC 52、 54、 56及58的接脚SDAS连接在一起并连接至主触控IC 60 的接脚SDAM以节省主触控IC 60的接脚使用量，主触控IC 60由接脚CLKM 送出时脉至各副触控IC 52、 54、 56及58的接脚CLKS，并以接脚SDAS接 收来自各副触控IC 52、54、56及58的扫描数据，主触控IC 60的接脚Addr[l:0] 则输出给定各副触控IC 52、 54、 56及58的位址(address)，为了避免各副触 控IC52、 54、 56及58的数据互相影响，接脚Addr[l:O]送出位址信号给各副 触控IC52、 54、 56及58以决定要输出扫描数据的副触控IC，例如，当目前 接脚Addr[l:O]送出的位址信号为00时，副触控IC 52将要传输给主触控IC 60 的扫描数据以序列方式传送出去，而副触控IC54、 56及58侦测到此组位址 并非指向自己后，将其接脚设为高阻抗或浮接(floating)，因此主触控IC60所 接收的来自副触控IC 52的扫描数据并不受到其他副触控IC 54、 56及58的 影响。同样的，在传输副触控IC54、 56及58的扫描数据时，主触控IC也是 以此种方式接收数据。图5显示本专利技术的第二实施例。以图4的序列端口传输为例，其可以扩 充到使用2个副触控IC。在电容式触控装置70中，使用2^颗AI型阵列电 容式触控IC 72、 74、 76、 78、 80及82作为副触控IC用以扫描触控面板(图 中未示)，并以序列端口方式传输序列数据给主触控IC 84，每一颗副触控IC 72、 74、 76、 78、 80及82各包括两只接脚CLKS及SDAS，所有副触控IC72、74、 76、 78、 80及82的接脚SDAS连接在一起并连接至主触控IC 84的接脚 SDAM以节省主触控IC 84的接脚使用量，主触控IC 84由接脚CLKM送出 时脉至各副触控IC72、 74、 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容式触控装置，其特征在于，该装置包括：　一触控面板；　多个至少一第一集成电路，用以扫描所述的触控面板，所述的至少一第一集成电路各自具有至少一第一接脚用以传送扫描数据；以及　一第二集成电路，具有至少一第二接脚连接每一所述的第一集成电路的所述的至少一第一接脚以接收来自所述的至少一第一集成电路的扫描数据以进行运算。

【技术特征摘要】
1.一种电容式触控装置，其特征在于，该装置包括一触控面板；多个至少一第一集成电路，用以扫描所述的触控面板，所述的至少一第一集成电路各自具有至少一第一接脚用以传送扫描数据；以及一第二集成电路，具有至少一第二接脚连接每一所述的第一集成电路的所述的至少一第一接脚以接收来自所述的至少一第一集成电路的扫描数据以进行运算。2. 如权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，所述的至少一第 一集成电路包括轴交错型阵列电容式触控集成电路。3. 如权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，所述的至少一第 一集成电路以序列传输方式传送扫描数据。4. 如权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，所述的至少一第一集成电路以并行传输方式传送扫...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪泽伦，黄荣寿，陈长新，
申请(专利权)人：义隆电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]