本发明专利技术提供一种电容式触控装置的检测方法，该电容式触控装置包含一触控面板具有多条感应线，该多条感应线的第Ｎ条连接一第一触控集成电路，该多条感应线的第Ｎ＋１条连接一第二触控集成电路，该检测方法包括下列步骤：取得在所述第Ｎ条感应线之前的其中至少一条感应线的模拟数字转换值以及在所述第Ｎ条感应线之后的其中至少一条感应线的模拟数字转换值；以及根据所取得的模拟数字转换值决定所述第Ｎ条感应线的感应量。该电容式触控装置的检测方法是用以判断在边界处的该第Ｎ条感应线的感应量，以避免边界处的该第Ｎ条感应线的感应量有不正确或是偏小的情形。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关一种电容式触控装置，特别是关于一种电容式触控装置的 检测方法。
技术介绍
在传统应用上，大尺寸电容式触控萤幕皆使用表面电容式(smface capacitive)感测技术，但表面电容式感测技术是利用流向银幕各端点的一组电 流不同来判别手指的位置，因此当触碰触控面板的手指数为二指以上时，回 报电流组数仍为一组，故仅能辨别一组绝对坐标位置，例如在二维矩阵时仅 能回报一组X,Y参数，因而无法达到多指触控的功能。所有触点可定位(AU Points Addressable; APA)型阵列电容式感测技术虽然 可以达到多指触控的功能，但是其需要对每个点感测器(Point Sensor)进行充放 电的动作，以矩阵形状的触控面板来说，当X轴及Y轴的感应线(tmce)增加 时，APA型阵列电容式的像素数目将急剧增加，因而造成取像速度(framemte) 下降，故不适用于大尺寸触控面板的应用。另一种轴交错(Axis Intersect; AI)型阵列电容式感测技术也同样能达到多 指触控的功能。图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测 技术，其包括一小尺寸触控面板10以及一 AI型阵列电容式触控IC12扫描触 控面板10，以一最大可支持扫描22条感应线的AI型阵列电容式触控IC12 为例来说，虽然应用在X轴及Y轴各有10条感应线TRX1 TRX10及 TRY1-TRY10的小尺寸触控面板10时取像速度还不错，但是若要将AI型阵 列电容式触控IC12应用于X轴及Y轴各有40条感应线TRX1 TRX40及TRY1 TRY40的大尺寸触控面板14时，如图2所示，则必须增加AI型阵列 电容式触控IC12可扫描的总感应线数量，然而，触控IC12每次对电容充放 电所花费的时间占整体触控面板应用上的取像速度的比例非常大，也就是说 取像速度问题主要由IC12每个帧(frame)对电容充放电所决定，故以增加可扫 描感应线数的方法应用于大尺寸触控面板14将会有一非常大的缺点，就是整 体应用上的取像速度将会严重下降，进而影响应用端的效能。
技术实现思路
本专利技术的目的，在于提出一种。一种电容式触控装置包括一触控面板具有多条感应线以及多个触控集成 电路扫描该多条感应线，其中该多条感应线中的第N条感应线连接该多个触 控集成电路中的第一触控集成电路，该多条感应线中的第N+1条感应线连接 该多个触控集成电路中的第二触控集成电路。根据本专利技术， 一种该电容式触 控装置的检测方法用以判断在边界处的该第N条感应线的感应量。在一实施例中，该检测方法包括以该第N条感应线前后几条感应线的模 拟数字转换值来取得该第N条感应线的感应量。在另一实施例中，该检测方法是先对该第N条感应线进行充放电以取得 一第一模拟数字转换值，再由该第一模拟数字转换值得到一第二模拟数字转 换值作为该第N条感应线的感应量，其中该第二模拟数字转换值为该第一模 拟数字转换值的函数。在又一实施例中，该检测方法包括每一该触控集成电路每次只使用一条 感应线行充放电以取得一模拟数字转换值，并且利用该模拟数字转换值决定 所使用的感应线的感应量。该是用以判断在边界处的感应线的感应量， 以避免边界处的感应线的感应量有不正确或是偏小的情形。附图说明图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术； 图2显示传统应用在大尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术；图3显示一种使用二颗以上AI型阵列电容式触控IC扫描触控面板的电容式触控装置；图4显示图3的局部放大图5显示解决边界问题的第一实施例；图6显示解决边界问题的第二实施例；以及图7显示解决边界问题的第三实施例。附图标号10 触控面板12 触控IC14 触控面板20 电容式触控装置22 触控面板24 触控IC26 触控IC具体实施例方式图3显示一种使用二颗以上AI型阵列电容式触控IC扫描触控面板的电 容式触控装置20。图4显示图3的局部放大图。在电容式触控装置20中，触 控IC24扫描触控面板22中的感应线TRX1至TRXIO，触控IC26扫描触控面 板22中的感应线TRX11至TRX20。由于电容式触控装置20可以使用多颗 AI型阵列电容式触控IC同时扫描触控面板，因此应用在大尺寸面板时，不但 具有多指触控功能，也具有良好的取像速度。在小尺寸触控面板的电容式触 控IC的检测方法中， 一般是同时选取两条感应线对于电容进行充放电以取得该两条感应线的模拟数字转换(Analogy Digital Convert; ADC)值，接着再利用 这两条感应线的ADC值取得一较佳的ADC值作为这两条感应线其中之一的 感应量。若将上述的检测方法应用于两个电容式触控IC共同扫描同一轴向的 话，如图4所示，同时对感应线TRX7及TRX8充放电以取得感应线TRX7 及TRX8的ADC值，将取得的ADC值作为感应线TRX7的感应量，依此类 推，利用感应线TRX8及TRX9的ADC值决定感应线TRX8的感应量，利用 感应线TRX9及TRX10决定感应线TRX9的感应量。按照前面的述叙，大尺 寸触控面板22的感应线TRX10的感应量应该由感应线TRX10及TRX11的 ADC值来判断，但是感应线TRX10是连接触控IC24而感应线TRX11是连接 触控IC26，因此在边界处的感应线TRX10的感应量只能用感应线TRX10的 ADC值来判断，因而使感应线TRX10的感应量有不正确或偏小的情形。图5显示解决边界问题的第一实施例，触控IC24扫描感应线TRX1至 TRX9的方法如同前述，每次选取两条感应线进行充放电以取得该两条感应线 的ADC值以判断该两条感应线其中之一的感应量，当扫描边界处的感应线 TRX10时，首先进行图5的步骤S30，取得边界处的感应线TRX10前后几条 感应线的ADC值，例如，边界处的感应线TRX10前后各一条感应线TRX9 及TRX11的ADC值，接着进行步骤S32，低通滤波这些ADC值，最后步骤 S34，平均滤波后的ADC值得到一较佳的ADC值作为边界处感应线TRX10 的感应量。图6显示解决边界问题的第二实施例，触控IC24扫描感应线TRX1至 TRX9的方法如同前述，每次选取两条感应线进行充放电以取得该两条感应线 的ADC值以判断该两条感应线其中之一的感应量，而在扫描边界处的感应线 TRX10时，切换为单一感应线扫描模式，仅使用单一条感应线TRX10来进行 判断并读取ADC值，该方法首先对边界处的感应线TRX10充放电以取得感 应线TRX10的第一ADC值，如图6的步骤S40所示，接着步骤S42对第一 ADC值进行调整后得到一较佳的第二 ADC值作为边界处感应线TRX10的感应量，例如，将第一ADC值乘上2产生该第二ADC值。图7显示解决边界问题的第三实施例，在此实施例中，每一个触控IC24 及26每次只使用一条感应线来进行充放电读取ADC值，如步骤S50所示， 接着再利用所读取的ADC值判断所使用的感应线的感应量，如步骤S52所示。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电容式触控装置的检测方法，其特征在于，所述电容式触控装置包含一触控面板具有多条感应线，所述多条感应线的第Ｎ条连接一第一触控集成电路，所述多条感应线的第Ｎ＋１条连接一第二触控集成电路，所述检测方法包括下列步骤： 取得在所述第Ｎ条感应 线之前的其中至少一条感应线的模拟数字转换值以及在所述第Ｎ条感应线之后的其中至少一条感应线的模拟数字转换值；以及 根据所取得的模拟数字转换值决定所述第Ｎ条感应线的感应量。
【技术特征摘要】
1.一种电容式触控装置的检测方法，其特征在于，所述电容式触控装置包含一触控面板具有多条感应线，所述多条感应线的第N条连接一第一触控集成电路，所述多条感应线的第N+1条连接一第二触控集成电路，所述检测方法包括下列步骤取得在所述第N条感应线之前的其中至少一条感应线的模拟数字转换值以及在所述第N条感应线之后的其中至少一条感应线的模拟数字转换值；以及根据所取得的模拟数字转换值决定所述第N条感应线的感应量。2. 如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述决定所述第N条感 应线的感应量的步骤包括平均所取得的模拟数字转换值以得到所述第N条感 应线的感应量。3. 如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括低 通滤波所取得的模拟数字转换值。4. 一种电容式触控装置的检测方法，其特征在于，所述电容式触控装置 包含一触控面板具有...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪泽伦，黄荣寿，蔡欣学，
申请(专利权)人：义隆电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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