一种低频电缆网络导通绝缘测试方法技术

一种低频电缆网络导通绝缘测试方法，绝缘泄漏特性测试的方案是将待测电缆的某一根导线与其余导线分离，并将其余导线短接，利用兆欧表产生的直流高压电，一次性完成此导线相对于其他导线的绝缘泄漏特性测试。低频阻抗特性测试的方案是将待测电缆的相邻两根导线短接，利用万用表一次性测量这两根导线的低频阻抗特性。本发明专利技术测试方法具有操作简便、使用工具少、测试效率高等特点，尤其对已铺设好的长电缆网络优势体现更加明显，特别适合现场测试的需要。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种低频电缆绝缘泄漏特性及低频阻抗特性的测试方法。
技术介绍
低频电缆网络的测试是卫星研制、地面测试系统搭建工作的重要组成部分。目前 对电缆网络的测试包括电缆的绝缘泄漏特性测试及低频阻抗特性测试。低频阻抗特性测 试的测试方法为，忽略频率对阻抗的影响，在被测电缆节点两端加一直流电压，根据欧姆定 律，计算被测电缆节点的低频阻抗特性。绝缘泄漏特性测试的方法为，采用直流高电压测量电缆不同导线间是否有泄漏电流以及电缆的绝缘保护是否满足要求，测量时对电缆中的每 根导线逐一进行，并且要求覆盖全部导线组合，当电缆中包含的导线数目较多时，将十分繁 琐复杂。 专利申请号为02136551，名称为《一种电缆测试装置及方法》的中国专利公开了一 种对电缆的矢量特性进行测试的方法，该方法主要是通过测试矢量生成设备生成标准输入 测试矢量，并将此标准矢量接入待测电缆的一端，在另一端利用测试矢量检测设备得到被 测电缆的测试输出矢量，将被测电缆的输出测试矢量表与标准电缆的标准输出测试矢量表 进行对比，如果结果相同，则说明被测电缆无故障，否则说明该电缆有故障。此方法操作繁 琐，测试矢量生成和检测设备体积大，造价高，并不适合普通电缆网络的绝缘特性和阻抗特 性测试。 专利申请号为200910118052，名称为《网络电缆测试方法及装置》的专利公开了一 种对双绞线进行测量的方法，该方法主要是在待测电缆的一端输入标准的方波激励信号， 采集待测电缆另一端的响应信号，通过比较响应信号相对激励信号的大小来判定电缆是否 相绞，是一种相对比较法。这种方法主要测试的是待测电缆是否相绞，并不能用于电缆绝缘 特性和阻抗特性测试。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是克服现有技术的不足，提供一种操作简便、使用工具 少、测试效率高的低频电缆网络导通绝缘测试方法。 本专利技术的技术解决方案是，包括绝缘泄漏特性测试方法和低频阻抗特性测试方法， 绝缘泄漏特性的测试步骤为 (1)从低频电缆网络中选取待测电缆，将所述待测电缆中所有导线上均串接一个 开关； (2)将所有导线的位于开关同一侧的一端通过短接头进行短接后接至兆欧表的负 端，兆欧表的正端接至任意一根导线所串接开关的未进行短接的一端； (3)断开兆欧表的正端所接导线串接的开关，同时闭合其余导线上串接的开关； (4)将兆欧表置于500V档位，若兆欧表显示①，则判断兆欧表的正端所接导线与其余导线绝缘，否则判断兆欧表的正端所接导线与其余导线未绝缘，存在泄漏电流； (5)重复步骤(3) (4)，进行m次测量，即可完成电缆中所有导线的绝缘泄漏特 性测试，其中m为电缆中包含的导线个数； 低频阻抗特性的测试步骤为 (A)从低频电缆网络中选取待测电缆，将所述待测电缆中的相邻两根导线的一端 通过短接头进行短接，使之成为等电位点； (B)对于所述相邻两根导线的另一端，采用万用表进行测试，得到两根导线的低频 电阻值； (C)将步骤(B)得到的电阻值除以2即为单根导线的低频电阻值； (D)重复步骤(A) (C)，进行m/2次测量，即可完成电缆中所有导线低频电阻值的测量。 本专利技术的基本原理是 采用本专利技术方法进行绝缘泄漏特性测试，测量任意一根导线的绝缘泄漏特性 时，需要将此根导线所串接的开关断开，其余导线所串接的开关闭合，同时将兆欧表置于 500V档位。若此根导线与其他导线绝缘，则兆欧表的正端和负端没有形成测试回路，其表 头指针应指向①;若此根导线与其他任意一根导线导通，则电流从兆欧表的正端流出，经 由两根导线的导通处，再通过闭合开关，流回兆欧表的负端，从而形成了一个电气回路，存 在泄漏电流，此时兆欧表显示的是某一值。这样，通过兆欧表以及开关的组合使用，把待测 电缆某一导线与其他导线分离出来，并将其他导线视为一根导线， 一次性完成绝缘特性测 试，有效地提高了测试效率。 采用本专利技术方法进行低频阻抗特性测试，测量待测电缆任意一根导线的低频阻抗 特性时，将此根导线与其相邻一根导线在电缆的一端进行短接，在另一端用万用表测量这 两根导线串联的总阻抗。由于两根导线的线径、材料、长度均一致，所以两根导线的低频阻 抗一致，故将两根导线串联的总阻抗值除以2即可得到单根导线的低频阻抗。此方法有效 避免了长电缆两端进行低频阻抗特性测试所带来的不便。 本专利技术与现有技术相比的优点是 (1)本专利技术测试方法减少了电缆网络绝缘泄漏特性测试及低频阻抗特性测试的时 间，提高了电缆测试的工作效率。例如对一根50芯的电缆进行绝缘泄漏特性测试，传统方 法需要测量次数是C^ =1225 ;欠,而且连接繁琐，容易出错；而使用本专利技术测量方法只需 要50次的开关拨动及数据监测工作，极大提高了工作效率； (2)本专利技术测试方法实现了低频阻抗特性测试的单边测量(即在电缆的一端实现 电缆导通测量)，尤其在对已铺设好的长电缆网络优势体现更加明显，大大减少了人力成 本。例如对一根50芯的长电缆进行低频阻抗特性测试，只需要在电缆的一端进行短接，另 一端进行测量，节约了测试时间，而且操作只需一名人员即可，避免了双端测量带来的人员 沟通不畅，容易出错等问题，特别适合现场测试需要； (3)现有的电缆测试仪器均采用的是传统方法测量电缆，电缆测试仪体积笨重， 价格昂贵；本专利技术的电缆测试方法相对于电缆测试仪来说，测试方法简单，测试工具价格便 宜、占用空间小，特别适合在现场测试电缆时使用。附图说明 图1为采用本专利技术方法进行绝缘泄漏特性测试的原理图； 图2为采用本专利技术方法进行低频阻抗特性测试的原理图。具体实施例方式如图1所示，为采用本专利技术方法进行绝缘泄漏特性测试的原理图。测试时，将待测电缆中的所有导线均串联上一个开关之后短接至兆欧表的负端，兆欧表的正端接至某一根导线所串接开关的未进行短接的一端，断开此导线所串联的开关，闭合其余开关，同时将兆欧表置于500V档位，观察兆欧表表头指针是否指向①，若兆欧表指针指向①，则判定此根导线与其余导线绝缘，否则判断兆欧表的正端所接导线与其余导线未绝缘，存在泄漏电流。依次重复操作，直至完成电缆中所有导线的绝缘泄漏特性测试。 如图2所示，为采用本专利技术方法进行低频阻抗特性测试的原理图。测试时，将待测电缆中的相邻两根导线的一端通过短接头进行短接，于电缆另一端采用万用表测量，得到两根导线串联的低频阻抗值，将所测得的阻抗值除以2即为单根导线的低频阻抗值；重复操作，直至完成电缆中所有导线低频阻抗值的测量。 实施例 下面以Y2-50型电缆为例，对本专利技术方法进行进一步说明。 Y2-50型电缆包含有50根导线，进行绝缘泄漏特性测试时，可将与待测电缆50根 导线所串联的50个手动开关集成在一个转接盒上，所有开关与待测电缆导线相连接的一 端留有插孔以便于连接兆欧表的正端，另一端则短接至兆欧表的负端。实际测试时，闭合所 有开关，若需要测试待测电缆第1根导线的绝缘泄漏特性，则将兆欧表的正端与转接盒上 第1个开关的预留插孔相连，同时断开此开关，若此时兆欧表表头指针指向①，证明此根 导线与其余导线绝缘，否则认为此导线与其余导线未绝缘，存在泄漏电流。同理验证第2根 导线的绝缘泄漏特性，依次操作50次，即可完成待测电缆的绝缘泄漏特性测试。 进行低频阻抗特性测试时，可制作一个50芯的短接头本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低频电缆网络导通绝缘测试方法，其特征在于包括：低频阻抗特性测试方法和绝缘泄漏特性测试方法，绝缘泄漏特性的测试步骤为：（１）从低频电缆网络中选取待测电缆，将所述待测电缆中所有导线上均串接一个开关；（２）将所有导线的位于开关同一侧的一端通过短接头进行短接后接至兆欧表的负端，兆欧表的正端接至任意一根导线所串接开关的未进行短接的一端；（３）断开兆欧表的正端所接导线串接的开关，同时闭合其余导线上串接的开关；（４）将兆欧表置于“５００Ｖ”档位，若兆欧表显示“∞”，则判断兆欧表的正端所接导线与其余导线绝缘，否则判断兆欧表的正端所接导线与其余导线未绝缘，存在泄漏电流；（５）重复步骤（３）～（４），进行ｍ次测量，即可完成电缆中所有导线的绝缘泄漏特性测试，其中ｍ为电缆中包含的导线个数；低频阻抗特性的测试步骤为：（Ａ）从低频电缆网络中选取待测电缆，将所述待测电缆中的相邻两根导线的一端通过短接头进行短接，使之成为等电位点；（Ｂ）对于所述相邻两根导线的另一端，采用万用表进行测试，得到两根导线的低频电阻值；（Ｃ）将步骤（Ｂ）得到的电阻值除以２即为单根导线的低频电阻值；（Ｄ）重复步骤（Ａ）～（Ｃ），进行ｍ／２次测量，即可完成电缆中所有导线低频电阻值的测量。...

【技术特征摘要】
一种低频电缆网络导通绝缘测试方法，其特征在于包括低频阻抗特性测试方法和绝缘泄漏特性测试方法，绝缘泄漏特性的测试步骤为(1)从低频电缆网络中选取待测电缆，将所述待测电缆中所有导线上均串接一个开关；(2)将所有导线的位于开关同一侧的一端通过短接头进行短接后接至兆欧表的负端，兆欧表的正端接至任意一根导线所串接开关的未进行短接的一端；(3)断开兆欧表的正端所接导线串接的开关，同时闭合其余导线上串接的开关；(4)将兆欧表置于“500V”档位，若兆欧表显示“∞”，则判断兆欧表的正端所接导线与其余导线绝缘，否则判断兆欧表的正端所...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖川，方博，洪雷，吴松平，蔡启新，
申请(专利权)人：航天东方红卫星有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]