用于电子装置的探针头的接触探针和相应的探针头制造方法及图纸

本申请描述了一种接触探针(20)，具有：第一端部(20A)，第一端部(20A)以接触尖端(21A)为末端，接触尖端(21A)构造成抵接到被测装置(51)的接触焊盘(51A)上；第二端部(20B)，第二端部(20B)以接触头(21B)为末端，接触头(21B)构造成抵接到测试设备的板(60)的接触焊盘(61A)上；以及探针主体(20C)，探针主体(20C)在第一端部(20A)和第二端部(20B)之间沿着纵向展开轴线(HH)延伸，第一端部(20A)包括第一支撑部分(22A)，第一支撑部分(22A)插设在探针主体(20C)和接触尖端(21A)之间。适当地，第一支撑部分(22A)包括至少一个接触引脚(24)和一个探针长度(23)，接触引脚和探针长度沿着纵向展开轴线(HH)彼此平行地延伸并且由气隙(ZA)隔开。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术在其最一般的方面涉及一种用于电子装置的探针头的接触探针，并且参考该应用领域进行以下描述，其唯一目的是简化其说明。

技术介绍

1、如广泛已知的，探针头本质上是一种适于将微结构(特别是集成在晶片上的电子器件)的多个接触焊盘与执行功能测试(特别是电气测试)或一般测试的测试设备的相应通道电连接的装置。

2、对集成电子装置进行的测试特别地旨在尽早在制造阶段检测并隔离有缺陷的装置。通常，探针头用于对集成在晶片上的电子装置进行电子测试，然后将它们切割并组装到芯片封装内。

3、探针头通常包括大量的接触元件或探针，这些接触元件或探针由具有良好电气和机械性能的特殊合金制成并且设置有至少一个与被测装置的接触焊盘之一的接触部分。

4、更具体地，垂直探针头包括多个接触探针，这些接触探针容纳在至少一对板形导引件中形成的导引孔中，彼此平行并且放置在一定距离处，以便留出用于使接触探针移动并最终变形的自由区域或气隙。所述一对导引件特别包括：上导引件，该上导引件定位成更靠近连接到探针头的测试设备；和下导引件，该下导引件定位成更靠近包括被测装置的晶本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种接触探针(20)，其具有：第一端部(20A)，所述第一端部(20A)以接触尖端(21A)为末端，所述接触尖端(21A)构造成抵接到被测装置的接触焊盘上；第二端部(20B)，所述第二端部(20B)以接触头(21B)为末端，所述接触头(21B)构造成抵接到测试设备的板的接触焊盘上；以及探针主体(20C)，所述探针主体(20C)沿着纵向展开轴线(HH)在所述第一端部(20A)和所述第二端部(20B)之间延伸，所述第一端部(20A)包括第一支撑部分(22A)，所述第一支撑部分(22A)插设在所述探针主体(20C)和所述接触尖端(21A)之间，其特征在于，所述第一支撑部分(22A)包括至少...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种接触探针(20)，其具有：第一端部(20a)，所述第一端部(20a)以接触尖端(21a)为末端，所述接触尖端(21a)构造成抵接到被测装置的接触焊盘上；第二端部(20b)，所述第二端部(20b)以接触头(21b)为末端，所述接触头(21b)构造成抵接到测试设备的板的接触焊盘上；以及探针主体(20c)，所述探针主体(20c)沿着纵向展开轴线(hh)在所述第一端部(20a)和所述第二端部(20b)之间延伸，所述第一端部(20a)包括第一支撑部分(22a)，所述第一支撑部分(22a)插设在所述探针主体(20c)和所述接触尖端(21a)之间，其特征在于，所述第一支撑部分(22a)包括至少一个接触引脚(24)和一个探针长度(23)，所述接触引脚(24)和所述探针长度(23)沿着所述纵向展开轴线(hh)彼此平行地延伸并且由气隙(za)隔开。

2.根据权利要求1所述的接触探针(20)，其特征在于，所述第一支撑部分(22a)还包括至少一个材料桥(25)，所述材料桥(25)构造成沿着与所述纵向展开轴线(hh)正交的横向方向将所述接触引脚(24)和所述探针长度(23)连接，所述探针长度(23)、所述接触引脚(24)和所述材料桥(25)将所述第一支撑部分(22a)整体构造成u形。

3.根据权利要求1所述的接触探针(20)，其特征在于，所述接触尖端(21a)与所述接触引脚(24)沿着另一纵向轴线(h’h’)对齐，所述另一纵向轴线(h’h’)与所述接触探针(20)的所述纵向展开轴线(hh)不同且平行。

4.根据权利要求1所述的接触探针(20)，其特征在于，所述接触引脚(24)包括至少一个保持部分(24b)，该保持部分对应于其自由端，与接合到所述材料桥(25)的一端相对，所述保持部分(24b)具有横向直径(dc)，所述横向直径(dc)大于所述接触引脚(24)在所述保持部分(24b)之外的横向直径(d2)，横向直径指与所述纵向展开轴线(hh)正交的横向截面的最大尺寸，即使在非圆形截面的情况下也是如此。

5.根据权利要求4所述的接触探针(20)，其特征在于，所述保持部分(24b)还包括至少一个扩大部分(27c)，所述扩大部分(27c)具有横向直径(dc)，所述横向直径(dc)大于所述接触引脚(24)的所述横向直径(d2)，所述扩大部分(27c)适于限定所述保持部分(24b)的至少一个底切壁(sq)。

6.根据权利要求4所述的接触探针(20)，其特征在于，所述保持部分(24b)还包括至少一个纵向开口(27)，所述纵向开口(27)沿着所述另一纵向轴线(h’h’)延伸并且构造成限定所述保持部分(24b)的至少一对部分(27a，27b)在受到横向压缩力，即与所述另一纵向轴线(h’h’)正交时，能够相互靠近和远离。

7.根据权利要求1所述的接触探针(20)，其特征在于，所述第二端部(20b)包括至少一个保持机构(28)，所述保持机构(28)构造成当其容纳所述第二端部(20b)时与导引孔的壁产生摩擦，所述保持机构(28)优选包括波纹表面。

8.根据权利要求1所述的接触探针(20)，其特征在于，所述第二端部(20b)还包括至少一个开口(29)，所述至少一个开口(29)沿着所述纵向展开轴线(hh)纵向布置在所述第二端部(20b)的第二支撑部分(22b)中，与所述接触头(21b)邻接，所述至少一个纵向布置的开口(29)构造成限定所述第二支撑部分(22b)的两个相对部分(29a，29b)在受到横向压缩力，即与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：里卡尔多·维托里，
申请(专利权)人：泰克诺探头公司，
类型：发明
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