光记录介质及光记录介质的光记录方法技术

本发明专利技术提供一种使用可稳定成型且槽深度相对较浅的基板，具有良好记录读取特性的极高密度的光记录介质。本发明专利技术的光记录介质（２０）为在形成有引导槽的基板（２１）上依次层积有反射层（２３）、含有色素作为主成分的记录层（２２）以及外覆层（２４）的膜面入射型光记录介质（２０），其中将记录读取光束（２７）所入射的外覆层（２４）的入射面的远侧的引导槽部作为记录槽部，记录槽部所形成的记录凹坑部其反射光强由于相位变化而增加，并且高于未记录时的反射光强。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光记录介质等，具体来说，涉及一种具有含色素的记录层的光记 录介质等。
技术介绍
近年来，可进行超高密度记录的蓝色激光的开发迅速取得进展，并正在对与之对 应的追记型的光记录介质进行开发。其中强烈期待的是对能够以相对较低成本、高效率生 产的色素涂布型的追记型介质的开发。现有的色素涂布型的追记型光记录介质中，通过对 以色素为主成分的有机化合物所形成的记录层照射激光，主要利用有机化合物的分解 变 性产生光学(折射率 吸收率)变化，来形成记录凹坑。记录凹坑部，并不仅仅为光学变 化，通常还伴随记录层体积变化所引起的变形、发热所引起的基板和色素的混合部形成、基 板变形(主要为基板膨胀所引起的隆起)等(参照专利文献1、专利文献2、专利文献3、以 及专利文献4)。 记录层所用的有机化合物相对于记录 读取所用的激光波长的光学行为、分 解 升华及其伴随的发热等热行为是用以形成良好记录凹坑的重要因素。因此，记录层所 用的有机化合物需选择光学性质，分解行为适合的材料。 说起来，现有的追记型介质，尤其是CD-R、 DVD-R中，以维持将Al、Ag、Au等反射膜 覆盖于基板上预先形成的凹坑所形成的只读记录介质(R0M介质)的读出兼容为目的，并以 实现大致60%或以上的反射率、同样实现超过大致60%的高调制度为目的。首先，为了在 未记录状态下获得高反射率，可规定记录层的光学性质。通常，在未记录状态下，要求折射 率n为约2或以上、衰减系数为0. 01 0. 3左右的数值(参照专利文献5、以及专利文献 6)。 以色素为主成分的记录层，仅靠记录所引起的光学性质的变化，也难以获得60% 或以上的高调制度。具体来说，折射率n和吸收率k的变化量就有机物的色素来说很有限， 因而平面状态下的反射率变化也很有限。 因此，利用的是以记录凹坑部与未记录部其反射光的相位差所引起的两部分反射 光的干涉效应，使记录凹坑部分的反射率变化(反射率降低)在效果上变大这种方法。具 体来说，有报导提及，用与ROM介质这种相位差凹坑相同的原理，折射率变化比无机物小的 有机物记录层的情况下，不如以相位差所引起的反射率变化为主使用反而有利(参照专利 文献7)。而且，综合考虑上述记录原理进行研究(参照非专利文献1)。 下面，不论其物理形状，均将如上所记录的部分(有时称为记录标记部)称为记录6凹坑、记录凹坑部、或记录凹坑部分。 图1是所具有的记录层以现有构成的色素为主成分的追记型介质(光记录介质 10)的说明图。如图1所示，光记录介质IO，在形成槽的基板11上至少依次形成有记录层 12、反射层13、以及保护涂层14，用物镜18，透过基板11使记录读取光束17入射，照射记录 层12。基板11的厚度通常使用1. 2mm(CD)或0. 6mm(DVD)。而且，记录凹坑从记录读取光 束17的入射面19观察处于近侧，形成于通常称为槽的基板槽部16部分，而非形成于远侧 的基板槽间部15。 上述这些公知文献中报导，相位差变化也使含色素的记录层12其记录前后的折 射率变化尽可能大，另一方面，记录凹坑部的形状变化，即槽内所形成的记录凹坑部其槽形 状有局部变化(随基板11的膨胀或凹陷而使槽深度等效变化)、膜厚的变化(记录层12膨 胀、收縮所引起的膜厚的透射变化)效应又有助于相位差变化。 如上文所述的记录原理中，为了使未记录时的反射率提高，并通过激光的照射使 得有机化合物分解，产生大的折射率变化(藉此可获得大的调制度)，通常记录读取光波长 选择为处于大吸收带的长波长侧的边缘位置。这是因为，大吸收带的长波长侧的边缘具有 适度的衰减系数，并且为可获得大折射率的波长区域。 但尚未发现相对于蓝色激光波长的光学性质具有与以往同等值的材料。尤其是， 目前实用化的蓝色半导体激光器的激发波长中心即405nm附近，具有与现有的追记型光记 录介质的记录层所要求的光学常数为同等程度的光学常数的有机化合物几乎不存在，目前 仍处于探索阶段。此外，具有现有色素记录层的追记型光记录介质，记录读取光波长附近存 在色素的主吸收带，所以存在其光学常数的波长依存度大(光学常数随波长而具有较大变 动)，相对于激光器的个体差异、环境温度变化等所引起的记录读取光波长的变动，记录灵 敏度或调制度、抖动(Jitter)或误差率等记录特性、或反射率等有较大变化这种问题。 例如，报导过使用405nm附近具有吸收的色素记录层的记录构思，但这里所使用 的色素要求与以往相同的光学特性和功能，完全取决于对高性能色素的探索发现(参照专 利文献8、以及专利文献9)。接着，如图1所示使用以现有色素为主成分的记录层12的追 记型光记录介质10中，报导过也必须恰当控制槽形状和记录层12的基板槽部16和基板槽 间部15的厚度分布等(参照专利文献10、专利文献11、以及专利文献12)。 具体来说，如上所述从确保高反射率这点考虑，只能使用相对于记录读取光波长 具有相对较小的衰减系数(0.01 0.3左右)的色素。因此，为了在记录层12中获得记 录所需的光吸收，此外为了使记录前后的相位差变化变大，则不可能使记录层12的膜厚变 薄。结果，记录层12的膜厚通常用A/(2rO (~为基板11的折射率)左右的厚度，将用于 记录层12的色素埋入槽内，为了降低信号间交互干扰，需要使用具有深槽的基板11。含色 素的记录层12通常利用旋涂法(涂布法)形成，所以将色素埋入深槽，使槽部的记录层12 成为厚膜反倒方便。另一方面，涂布法中基板槽部16与基板槽间部15的记录层膜厚虽有 差异产生，但产生这种记录层膜厚的差异，在使用深槽也稳定获得跟踪伺服信号方面较为 有效。 具体来说，就图1的基板11表面所规定的槽形状、以及记录层12和反射层13两 者之间的界面所规定的槽形状而言，无法使上述两者的槽形状确保恰当的值的话，便无法 确保记录凹坑部的信号特性和跟踪信号特性两者。槽的深度通常需要接近A/(2ns)(A为7记录读取光束17的波长，~为基板11的折射率)，CD-R为200nm左右范围，DVD-R为150nm 左右范围。这种具有深槽的基板11其形成非常困难，成为光记录介质10品质降低的主要 因素。 尤其是，使用蓝色激光的光记录介质中，为A 二 405nm的话，需要接近100nm的深 槽，另一方面，为了实现高密度，大多使轨迹间距为0. 2 m 0. 4 m。按此狭窄的轨迹间 距，如此形成深槽仍然有困难，实际上现有的聚碳酸酯树脂几乎不可能大量生产。也就是 说，用蓝色激光的介质按现有构成大量生产很可能相当困难。 此外，上述公报中实施例的多数虽属于示出现有盘片构成的图1的例子，但为了 实现使用蓝色激光的高密度记录，称为所谓膜面入射的构成受到关注，其中报导过使用相 位变化型记录层等的无机材料记录层这种构成(参照非专利文献3)。称为膜面入射的构成 中，与以往相反，是在形成有槽的基板上至少依次形成反射膜、记录层、外覆(cover)层而 成，通过外覆层使记录读取用的集束激光入射，并照射记录层。外覆层的厚度，在所谓的蓝 光光盘(Blu-Ray)中，通常使用的是100 y m左右(非专利文献9)。之所以从这种薄的外覆 层侧入射记录读取光，是因为用于其集束的物镜使用的是比以往高的数值孔径本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录介质，其特征在于，依次具有：形成有引导槽的基板；在所述基板之上、至少具有光反射功能的层；含有未记录状态下对记录读取光波长具有光吸收功能的色素作为主成分的记录层；及相对于所述记录层让记录读取光入射的外覆层，将所述记录读取光集束得到记录读取光束，当以离开该记录读取光束入射于所述外覆层的面远侧的引导槽部作为记录槽部时，所述记录槽部未记录时的记录层膜厚ｄ↓［Ｇ］与未形成记录凹坑部的引导槽即记录槽间部未记录时的记录层膜厚ｄ↓［Ｌ］满足ｄ↓［Ｌ］／ｄ↓［Ｇ］≤０．５，所述记录槽部形成记录凹坑部时的反射光强高于该记录槽部未记录时的反射光强。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：堀江通和，黑濑裕，久保秀之，清野贤二郎，
申请(专利权)人：三菱化学媒体株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]